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Ferdinand-Braun-Institut gGmbH, Leibniz-Institut für HöchstfrequenztechnikBerlinTED

Prior Information Notice – RF Measurement System for On-Wafer Characterisation

The Ferdinand-Braun-Institut (FBH) plans to procure a high-frequency RF measurement system for on-wafer characterisation within the framework of the EU-funded APECS programme. The system will be used for the electrical characterisation of semiconductor devices, circuits and demonstrators, including single-ended and differential measuremen...

Angebotsfrist: 12. Juli 2026 (abgelaufen)Typ: Ausschreibung

Messtechnik

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Ausschreibungstyp:
Ausschreibung
Auftraggeber:
Ferdinand-Braun-Institut gGmbH, Leibniz-Institut für Höchstfrequenztechnik
Veröffentlicht:
11. Juni 2026
Frist:
12. Juli 2026
Thema:
Messtechnik

Ausschreibungsbeschreibung

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The Ferdinand-Braun-Institut (FBH) plans to procure a high-frequency RF measurement system for on-wafer characterisation within the framework of the EU-funded APECS programme. The system will be used for the electrical characterisation of semiconductor devices, circuits and demonstrators, including single-ended and differential measurements in the mmWave frequency range. It is intended to support advanced heterointegration processes and ensure reliable and high-quality measurement results. The equipment shall enable automated, high-precision measurements and provide a versatile platform for RF analysis, including network and spectrum measurements. It will be integrated into existing cleanroom and measurement environments. The procurement procedure is planned for 2026.

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Häufige Fragen zu dieser Ausschreibung

Wie kann ich mich auf diese Ausschreibung bewerben?
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Bis wann läuft die Angebotsfrist?
Die Angebotsfrist endet am 12. Juli 2026.
Wer ist der Auftraggeber?
Der Auftraggeber ist Ferdinand-Braun-Institut gGmbH, Leibniz-Institut für Höchstfrequenztechnik.
Welche Unterlagen sind für den Start relevant?
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