Kungliga Tekniska högskolanSTOCKHOLMTED
Transmission electron microscope
Beschaffung eines 200 kV Transmissionselektronenmikroskops (TEM) mit der Fähigkeit zum Betrieb im Raster-Transmissionsmodus (S/TEM). Das Gerät muss über eine Laserheizfunktion verfügen und ist für die Forschung im Bereich der nachhaltigen Metallurgie vorgesehen.
Laborinstrumente
Ohne Kreditkarte · Sofortiger Zugang
Inhalt auf einen Blick
- Ausschreibungstyp:
- Ausschreibung
- Auftraggeber:
- Kungliga Tekniska högskolan
- Veröffentlicht:
- 22. April 2026
- Frist:
- 25. Mai 2026
- Thema:
- Laborinstrumente
Ausschreibungsbeschreibung
Beschaffung eines 200 kV Transmissionselektronenmikroskops (TEM) mit der Fähigkeit zum Betrieb im Raster-Transmissionsmodus (S/TEM). Das Gerät muss über eine Laserheizfunktion verfügen und ist für die Forschung im Bereich der nachhaltigen Metallurgie vorgesehen.
Weiterführende Details
Mit dem kostenlosen Zugang stehen Unterlagen, Fristen und Hinweise zur Einreichung strukturiert bereit.
- Kernanforderungen der Ausschreibung priorisiert aufbereitet
- Fristen, Eignungskriterien und Unterlagen in einem Ablauf
- Hinweise zur strukturierten Angebotsvorbereitung
- Passende Folgeausschreibungen automatisch entdecken
30 Tage kostenlos · keine Kreditkarte · jederzeit kündbar
Alle Vergabedetails
Auftraggeber, Lose, Beteiligte, Orte, Unterlagen und Verfahrensdaten sind bereits erfasst. Öffnen Sie einen Bereich, um die vollständigen Angaben im Workspace zu sehen.
5 Datenbereiche verfügbar
30 Tage kostenlos · keine Kreditkarte · jederzeit kündbar
Unterlagen
Freischalten50 Angaben erfasstUnterlagen · Dokumentenpaket
Auftraggeber
Freischalten3 Angaben erfasstAuftraggeber · Anschrift · Kontakt
Lose
Freischalten1 Angabe erfasstLose LOT-0000
Verfahrensdaten
Freischalten6 Angaben erfasstBekanntmachungsnummer · Verfahrensreferenz · Referenz des Auftraggebers · Verfahrensart · +2 weitere
Ausführungsorte
Freischalten3 Angaben erfasstAusführungsorte
Ähnliche Bekanntmachungen
6double corrected Transmission Electron microscope (TEM)
Imec EU Pilot line NVHeverleeFrist: 08. JuniDOUBLE CORRECTED TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE (TEM)Supply, Delivery and Installation of a Transmission Electron Microscopy (TEM) Suite consisting of 2 TEM tools and 1 Focused Ion Beam–Scanning Electron Microscope (FIB.SEM) for Tyndall Instit, UCC,
University College CorkCorkProcurement of a TEM suite (2 TEMs, 1 FIB-SEM) for Tyndall National Institute, UCC. Includes aberration-corrected TEM with sub-ångström resolution, 200 kV high-throughput TEM, and FIB-SEM. Supports nanoscale research in semiconductors, photonics, and quantum materials. Enhances analytical capabilities for EU Chips Act projects and industrial collaborations. Part of new lab facilities requiring advanced imaging modes (low-dose, 4D-STEM) and in-situ experimentation.Bundle of 120kV TEM and screening 200kV cryo-TEM
Institute of Science and Technology AustriaFrist: 08. JuniBeschaffung eines 120 kV TEM und eines 200 kV cryo-TEM für die Modernisierung und Kapazitätserweiterung eines Kryo-EM-Workflows, einschließlich eines gemeinsamen Wartungsvertrags für beide Geräte.Kamerasystem zur Direktelektronendetektion für ein Transmissionselektronenmikroskop
Helmholtz-Zentrum hereon GmbHPräambel Die Helmholtz-Zentrum hereon GmbH (Hereon) ist eine gemeinnützige Forschungseinrichtung und eine der 18 Mitgliedseinrichtungen der Hermann von Helmholtz-Gemeinschaft Deutscher Forschungszentren e. V. Die Aufwendungen des Hereon werden zu 90% vom Bund (BMFTR - Bundesministerium für Forschung, Technologie und Raumfahrt) und zu 10% von den vier Konsortialländern (Schleswig-Holstein, Hamburg, Niedersachsen und Brandenburg) finanziert. Die satzungsmäßige Aufgabe der Gesellschaft ist es, im multidisziplinären Verbund Forschung und Entwicklung, insbesondere auf den Gebieten der Materialforschung, der Küsten-, Klima- und Umweltforschung sowie der regenerativen Medizin zu betreiben. Gegenstand der Ausschreibung ist das Upgrade eines bestehenden Transmissionselektronenmikroskops (TEM) vom Typ Talos F200X zu einem hochintegrierten, multimodalen Analysesystem. Damit soll die Voraussetzung zur Erfüllung der Forschungsschwerpunkte auf computergestützte Mikroskopietechnik geschaffen werden. Ziel ist die signifikante Erweiterung der analytischen Fähigkeiten in den Bereichen: - hochauflösende STEM-Bildgebung - 4D-STEM Datenerfassung - Niedrigdosis- und strahlensensitive Untersuchungen - automatisierte und reproduzierbare Messabläufe Dabei ist ein vollständig integriertes Gesamtsystem bereitzustellen, in dem alle Komponenten hardware- und softwareseitig optimal aufeinander abgestimmt sind. Leistungsbeschreibung Der Auftragnehmer liefert, installiert und integriert ein Upgrade bestehend aus: 1. Direct Electron Detection System (DED) o DED-Kamera (80 kV und 200 kV kompatibel) o Hochperformance Datenmanagementplattform (DMP) o Vollständige Integration in die Mikroskop-Steuerung 2. STEM-Upgrade und 4D-STEM Funktionalität o On-Axis STEM Detektor (BF/DF) o HAADF Detektor o 4D-STEM Datenerfassungssystem o DPC/iDPC Software o Softwaremodul für Integrated Differential Phase Contrast (iDPC) im live-Modus 3. Systemintegration und Installation o Vollständige Installation aller Komponenten o Integration in bestehende Infrastruktur o Anwenderschulung Das System muss als vollintegrierte Lösung angeboten werden, bei der die Hardware, Detektoren, Software und das Datenmanagement aus einer Hand stammen und nahtlos zusammenarbeiten. Beschreibung 1. Systemintegration (zwingend erforderlich) Das System muss eine durchgängige Integration aller Detektoren und Analyseverfahren in eine einheitliche Benutzeroberfläche gewährleisten. o Einheitliche Steuerung über VELOX Software o Gleichzeitige Nutzung mehrerer Signale (TEM, STEM, EDS, 4D-STEM) o Synchronisierte Datenerfassung 2. Direktelektronendetektor (DED-Kamera) Direktelektronendetektor mit hoher Detektionseffizienz (DQE) bei 200 kV: o Anzahl der Pixel: mind. 4k x 4k o Pixelgröße für optimales Signal-Rausch-Verhältnis: mindestens 14µm x 14 µm o DQE (Detective Quantum Efficiency) wie folgt oder besser bei einer Bildleistung im Electron Event Representation - Modus (EER), (4k x 4k) und bei 200 kV: DQE (0) mindestens 0,91; DQE (1/2 Nq) mindestens 0,62; DQE (1 Nq) mindestens 0,33 o Electron Event Representation (EER) Modus zur verlustfreien Datenreduktion o Frame Rate sowie Frame Rate to Storage: mindestens 320 fps im EER-Modus o Sensor-Lebenszeit (<10% DQE Degradation): 5 Jahre (1.5 Ge/px) bei üblicher Verwendung o Vollintegration in die VELOX-Anwender-Software o Abnahmezertifikat für die obigen Parameter 3. On-Axis STEM Detektor o Segmentierter Detektor mit 16 BF/DF Segmenten mit single-elektron- Sensitivität o Gleichzeitige Nutzung mehrerer Kontrastsignale o Unterstützung von DPC und live iDPC 4. 4D-STEM Funktionalität o Aufnahme vollständiger Beugungsdatensätze pro Pixel o Flexible ROI-Definition: bis zu 8 virtuelle Detektoren definierbar und gleichzeitige EDX sowie HAADF-STEM Erfassung o Speicherung als multidimensionale Datensätze o Bereitstellung als Open-Source-Daten, die nach dem Experiment mit jeder verfügbaren Software weiterverarbeitet werden können, zum Beispiel mit Py4DSTEM 5. Live iDPC Bildgebung o Hohe Empfindlichkeit für leichte Elemente o Hoher Signal-zu-Rausch-Abstand o Betrieb bei niedrigen Strahlströmen Anforderung an Computerhard und -software Das angebotene System muss folgende Integrationsvorteile erfüllen (Mindestanforderung): 1. Vollintegration aller Detektoren o DED-Kamera, STEM-Detektoren, EDS und 4D-STEM arbeiten in einem System o Vollintegration in die VELOX-Anwender-Software, keine externe Software 2. Gleichzeitige multimodale Datenerfassung o Parallelbetrieb von 4D-STEM, EDS und HAADF/STEM 3. Workflow-Integration und Automatisierung o Automatische Alignments o Drift-korrigierte Bildintegration o Zeitaufgelöste EDS-Analyse 4. Datenmanagement o Zentrale Datenspeicherung (DMP) o Strukturierte Metadatenverwaltung o Multi-User Zugriff Sonstiges o Lieferung aller Komponenten als integriertes System o Fachgerechte Installation und Inbetriebnahme o Durchführung von Anwenderschulungen o Sicherstellung der Kompatibilität mit bestehender Infrastruktur o Remote-Servicefähigkeit o Wartung und Service des kompletten Systems durch einen Anbieter (Gesamtverantwortung). Der Bestbieter ist verantwortlich für das gesamte TEM inklusive der neuen Teile, das beinhaltet neben der Wartung auch die Problembehebung und allfällige Garantien. o inkl. Garantie und Wartungsvertrag für 2 Jahre Lieferung, Aufbau, Abnahme und Rechnungsstellung muss bis KW50/2026 erfolgt sein, da die Projektgelder nur in diesem Jahr zur Verfügung stehen.Serial Block-Face Scanning Electron Microscope (SBF-SEM)
Göteborgs universitetGÖTEBORGFrist: 14. MaiBeschaffung eines Serial Block-Face Rasterelektronenmikroskops (SBF-SEM) zur automatisierten dreidimensionalen Abbildung der Ultrastruktur in Harz eingebetteter biologischer Proben. Das System ermöglicht die langfristige, automatisierte Erfassung großer volumetrischer Datensätze über Tage oder Wochen hinweg. Ziel ist die Erweiterung der Kapazitäten des Centre for Cellular Imaging (CCI) für großvolumige ultrastrukturelle Analysen und die Unterstützung fortschrittlicher 3D-EM-Studien.Live Cell Imaging Microscope
Technische Universiteit EindhovenEindhovenThe delivery and installation of a Live Cell Imaging Microscope 1
Häufige Fragen zu dieser Ausschreibung
- Wie kann ich mich auf diese Ausschreibung bewerben?
- Erstellen Sie ein kostenloses Konto auf Auftrag One. Danach sehen Sie alle Unterlagen, Fristen und Hinweise zur Einreichung in einem strukturierten Ablauf.
- Bis wann läuft die Angebotsfrist?
- Die Angebotsfrist endet am 25. Mai 2026.
- Wer ist der Auftraggeber?
- Der Auftraggeber ist Kungliga Tekniska högskolan.
- Welche Unterlagen sind für den Start relevant?
- In der Regel benötigen Sie Leistungsbeschreibung, Eignungsnachweise, Fristenhinweise und ggf. Formblätter. Auf Auftrag One werden diese Punkte priorisiert dargestellt.