Imec EU Pilot line NVHeverleeTED
double corrected Transmission Electron microscope (TEM)
DOUBLE CORRECTED TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE (TEM)
Laborinstrumente
Ohne Kreditkarte · Sofortiger Zugang
Inhalt auf einen Blick
- Ausschreibungstyp:
- Ausschreibung
- Auftraggeber:
- Imec EU Pilot line NV
- Veröffentlicht:
- 07. Mai 2026
- Frist:
- 08. Juni 2026
- Thema:
- Laborinstrumente
Ausschreibungsbeschreibung
DOUBLE CORRECTED TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE (TEM)
Weiterführende Details
Mit dem kostenlosen Zugang stehen Unterlagen, Fristen und Hinweise zur Einreichung strukturiert bereit.
- Kernanforderungen der Ausschreibung priorisiert aufbereitet
- Fristen, Eignungskriterien und Unterlagen in einem Ablauf
- Hinweise zur strukturierten Angebotsvorbereitung
- Passende Folgeausschreibungen automatisch entdecken
30 Tage kostenlos · keine Kreditkarte · jederzeit kündbar
Alle Vergabedetails
Auftraggeber, Lose, Beteiligte, Orte, Unterlagen und Verfahrensdaten sind bereits erfasst. Öffnen Sie einen Bereich, um die vollständigen Angaben im Workspace zu sehen.
6 Datenbereiche verfügbar
30 Tage kostenlos · keine Kreditkarte · jederzeit kündbar
Unterlagen
Freischalten50 Angaben erfasstUnterlagen · Dokumentenpaket
Auftraggeber
Freischalten3 Angaben erfasstAuftraggeber · Anschrift · Kontakt
Lose
Freischalten1 Angabe erfasstLose LOT-0001
Verfahrensdaten
Freischalten6 Angaben erfasstBekanntmachungsnummer · Verfahrensreferenz · Referenz des Auftraggebers · Verfahrensart · +2 weitere
Ausführungsorte
Freischalten3 Angaben erfasstAusführungsorte
Veröffentlichungsstelle
Freischalten3 Angaben erfasstVeröffentlichungsstelle · Anschrift · Kontakt
Ähnliche Bekanntmachungen
7Transmission electron microscope
Kungliga Tekniska högskolanSTOCKHOLMFrist: 25. MaiBeschaffung eines 200 kV Transmissionselektronenmikroskops (TEM) mit der Fähigkeit zum Betrieb im Raster-Transmissionsmodus (S/TEM). Das Gerät muss über eine Laserheizfunktion verfügen und ist für die Forschung im Bereich der nachhaltigen Metallurgie vorgesehen.Scanning electron microscope
Universitetet i OsloOsloFrist: 29. JuniTHE SMN shall procure a scanning electron microscope for the LVB building.Supply, Delivery and Installation of a Transmission Electron Microscopy (TEM) Suite consisting of 2 TEM tools and 1 Focused Ion Beam–Scanning Electron Microscope (FIB.SEM) for Tyndall Instit, UCC,
University College CorkCorkProcurement of a TEM suite (2 TEMs, 1 FIB-SEM) for Tyndall National Institute, UCC. Includes aberration-corrected TEM with sub-ångström resolution, 200 kV high-throughput TEM, and FIB-SEM. Supports nanoscale research in semiconductors, photonics, and quantum materials. Enhances analytical capabilities for EU Chips Act projects and industrial collaborations. Part of new lab facilities requiring advanced imaging modes (low-dose, 4D-STEM) and in-situ experimentation.Delivery, installation, and maintenance of a Dual-beam plasma ion and scanning Electron Microscope
Universiteit UtrechtUtrechtDelivery, installation, and maintenance of a Dual-beam plasma ion and scanning Electron Microscope for research within the EMPower roadmap project, a collaboration between Utrecht University and Leiden University.Serial Block-Face Scanning Electron Microscope (SBF-SEM)
Göteborgs universitetGÖTEBORGFrist: 14. MaiBeschaffung eines Serial Block-Face Rasterelektronenmikroskops (SBF-SEM) zur automatisierten dreidimensionalen Abbildung der Ultrastruktur in Harz eingebetteter biologischer Proben. Das System ermöglicht die langfristige, automatisierte Erfassung großer volumetrischer Datensätze über Tage oder Wochen hinweg. Ziel ist die Erweiterung der Kapazitäten des Centre for Cellular Imaging (CCI) für großvolumige ultrastrukturelle Analysen und die Unterstützung fortschrittlicher 3D-EM-Studien.Vergabeverfahren zur Lieferung eines Pulsrohrgekühlten 3He/4He-Verdünnungskryostats mit zwei Verdünnungseinheiten
Universität HeidelbergLieferung eines pulsrohrgekühlten 3He/4He-Verdünnungskryostats für das Dunkle-Materie-Experiment DELight an der Universität Heidelberg. Das System muss zwei unabhängige Temperaturprofile unterstützen. Der Leistungsumfang umfasst die Lieferung, Aufstellung, Entsorgung der Verpackung, Funktionstest, Inbetriebnahme, Abnahme vor Ort sowie eine Schulung für Mitarbeiter durch einen Kryoingenieur.Hotplate zur Temperung großflächiger Substrate für Elektronenstrahllithografie
Friedrich-Schiller-Universität JenaFrist: 19. MaiBeschaffung einer halbautomatischen Hotplate zur definierten Pre- und Post-bake-Temperung von resistbeschichteten Substraten für die Elektronenstrahllithografie. Die Anlage muss eine hohe Temperaturhomogenität gewährleisten. Geeignet für 300mm-Wafer sowie rechteckige Glassubstrate bis zu einer Größe von 300mm x 275mm x 15mm. Die Prozessparameter sind entscheidend für die Empfindlichkeit chemisch verstärkter Resists.
Häufige Fragen zu dieser Ausschreibung
- Wie kann ich mich auf diese Ausschreibung bewerben?
- Erstellen Sie ein kostenloses Konto auf Auftrag One. Danach sehen Sie alle Unterlagen, Fristen und Hinweise zur Einreichung in einem strukturierten Ablauf.
- Bis wann läuft die Angebotsfrist?
- Die Angebotsfrist endet am 08. Juni 2026.
- Wer ist der Auftraggeber?
- Der Auftraggeber ist Imec EU Pilot line NV.
- Welche Unterlagen sind für den Start relevant?
- In der Regel benötigen Sie Leistungsbeschreibung, Eignungsnachweise, Fristenhinweise und ggf. Formblätter. Auf Auftrag One werden diese Punkte priorisiert dargestellt.