IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative MikroelektronikTED
Semi-automated probe system with accessories
Beschaffung: Lieferung, Installation und Inbetriebnahme eines integrierten Systems zur optischen und opto-elektrischen Charakterisierung auf Wafer- und Chip-Ebene im sichtbaren Spektralbereich. System: Halbautomatische 200-mm-Probestation für Laborbetrieb außerhalb von Reinräumen. Mindestausstattung: temperierter Chuck, hochauflösendes Mi...
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Inhalt auf einen Blick
- Ausschreibungstyp:
- Ausschreibung
- Auftraggeber:
- IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik
- Veröffentlicht:
- 19. Februar 2026
- Frist:
- 24. März 2026
Ausschreibungsbeschreibung
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Beschaffung: Lieferung, Installation und Inbetriebnahme eines integrierten Systems zur optischen und opto-elektrischen Charakterisierung auf Wafer- und Chip-Ebene im sichtbaren Spektralbereich. System: Halbautomatische 200-mm-Probestation für Laborbetrieb außerhalb von Reinräumen. Mindestausstattung: temperierter Chuck, hochauflösendes Mikroskop, manuelle Manipulatoren für RF/DC-Tipps und optische Fasern. Umfang: Hardware, Steuerungselektronik, Software (Windows 11), Kabel, Zubehör. Fernsteuerung via GPIB und LAN erforderlich. Lieferung bis zum Einsatzort (Labor), Installation, Inbetriebnahme, mindestens zwei Tage Schulung, technische Dokumentation und deutsche Sicherheitshinweise. System muss neu sein, CE-konform, kompatibel mit 230/400 VAC, 50 Hz. Mindestens 24 Monate Garantie. Optional: Angebot für jährlichen Wartungsvertrag über drei Jahre (inkl. Planarisation, Schmierung, Kalibrierung). Lieferbedingungen: INCOTERMS 2020 (DDP oder DAP).
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Häufige Fragen zu dieser Ausschreibung
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- Bis wann läuft die Angebotsfrist?
- Die Angebotsfrist endet am 24. März 2026.
- Wer ist der Auftraggeber?
- Der Auftraggeber ist IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik.
- Welche Unterlagen sind für den Start relevant?
- In der Regel benötigen Sie Leistungsbeschreibung, Eignungsnachweise, Fristenhinweise und ggf. Formblätter. Auf Auftrag One werden diese Punkte priorisiert dargestellt.