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IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik

300 mm Photonics Prober station and Optical test and measurement system

Beschaffung einer halbautomatischen 200mm-Wafer-Probestation zur Charakterisierung von Graphen-basierten photonischen Bauteilen. Die Plattform muss für bis zu 300mm-Wafer geeignet sein und Messungen von IL, ER, PDL, PMD, S-Parametern sowie eine elektro-optische Bandbreite von 67 GHz für passive und aktive Bauteile unterstützen. Los 1: 300...

Typ: Ausschreibung
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Beschaffung einer halbautomatischen 200mm-Wafer-Probestation zur Charakterisierung von Graphen-basierten photonischen Bauteilen. Die Plattform muss für bis zu 300mm-Wafer geeignet sein und Messungen von IL, ER, PDL, PMD, S-Parametern sowie eine elektro-optische Bandbreite von 67 GHz für passive und aktive Bauteile unterstützen. Los 1: ...

Ausschreibungstyp:
Ausschreibung
Auftraggeber:
IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik
Veröffentlicht:
04. März 2026
Frist:
Nicht angegeben

Ausschreibungsbeschreibung

Beschaffung einer halbautomatischen 200mm-Wafer-Probestation zur Charakterisierung von Graphen-basierten photonischen Bauteilen. Die Plattform muss für bis zu 300mm-Wafer geeignet sein und Messungen von IL, ER, PDL, PMD, S-Parametern sowie eine elektro-optische Bandbreite von 67 GHz für passive und aktive Bauteile unterstützen. Los 1: 300mm-Wafer-Probersystem. Los 2: Optisches Test- und Messsystem. Angebote erfordern eine technische Beschreibung, Funktionsprinzip und Handbuch.

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