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Focused Ion Beam, Scanning Electron Microscope (FIB-SEM)
Lund Nano Lab (LNL) at Lund University intends to purchase a Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope, in this document referred to as the FIB-SEM, instrument or equipment. This document lists all the requirements the FIB-SEM must meet. The instrument is intended to be used for high-resolution imaging, materials analysis and preparin...
Angebotsfrist: 24. August 2026 (abgelaufen)Typ: Ausschreibung
Messtechnik, Laborinstrumente
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- Ausschreibungstyp:
- Ausschreibung
- Auftraggeber:
- Lunds universitet
- Veröffentlicht:
- 01. Juli 2026
- Frist:
- 24. August 2026
- Thema:
- Messtechnik
Ausschreibungsbeschreibung
Lund Nano Lab (LNL) at Lund University intends to purchase a Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope, in this document referred to as the FIB-SEM, instrument or equipment. This document lists all the requirements the FIB-SEM must meet. The instrument is intended to be used for high-resolution imaging, materials analysis and preparing samples for TEM analysis as well as for experiments at the MAX IV synchrotron.
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