Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg, Abteilung 2 - Finanzen, Zentrale Auftragsvergabe
Upgrade Transmissionselektronenmikroskop
Nationale Ausschreibung nach UVgO Öffentliche Ausschreibung Vergabenr.: BA2-2026-62-D 1. Zur Angebotsabgabe auffordernde Stelle, zuschlagserteilende Stelle: Name und Anschrift: Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg, Abteilung 2 - Finanzen, Zentrale Auftragsvergabe Universitätsplatz 10 06108 Halle (Saale) Deutschland Telefonnummer: Te...
Laboratory Instruments
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- Tender type:
- Tender
- Contracting authority:
- Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg, Abteilung 2 - Finanzen, Zentrale Auftragsvergabe
- Published:
- July 29, 2026
- Deadline:
- August 18, 2026
- Topic:
- Laboratory Instruments
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Nationale Ausschreibung nach UVgO Öffentliche Ausschreibung Vergabenr.: BA2-2026-62-D 1. Zur Angebotsabgabe auffordernde Stelle, zuschlagserteilende Stelle: Name und Anschrift: Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg, Abteilung 2 - Finanzen, Zentrale Auftragsvergabe Universitätsplatz 10 06108 Halle (Saale) Deutschland Telefonnummer: Telefaxnummer: E-Mail-Adresse: [email protected] Internet-Adresse: https://www.uni-halle.de Zuschlagserteilende Stelle: Siehe oben 2. Verfahrensart (§ 8 UVgO): Verfahrensart: Öffentliche Ausschreibung 3. Angebote können abgegeben werden: elektronisch in Textform elektronisch mit fortgeschrittener Signatur elektronisch mit qualifizierter Signatur Anschrift zur Einreichung schriftlicher Angebote: ENTFÄLLT- (es sind ausschließlich elektronische Angebote zugelassen) 4. Zugriff auf Vergabeunterlagen: Maßnahmen zum Schutz der Vertraulichkeit und die Informationen zum Zugriff auf die Vergabeunterlagen (§ 29 Abs. 3 UVgO): Entfällt (siehe 9.). 5. Art und Umfang sowie Ort der Leistung: Art der Leistung: Upgrade des TEM EM900 und Kamera inkl. Software und Workstation Menge und Umfang: 1x Upgrade EM900 sowie 1x Upgrade der Kamera inkl. Software und Workstation. Inkl. Installation, Inbetriebnahme, Schulung und Wartung (Weitere Anforderungen entnehmen Sie bitte den Vergabeunterlagen) Ort der Leistung: Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg Weinbergweg 22 06120 Halle 6. Losaufteilung: Losweise Vergabe: Nein 7. Nebenangebote sind nicht zugelassen 8. Etwaige Bestimmungen über die Ausführungsfrist: Beginn der Ausführungsfrist: Ende der Ausführungsfrist: Bemerkung zur Ausführungsfrist: Lieferung erfolgt schnellstmöglich, spätestens innerhalb der im Angebot des Auftragnehmers genannten Lieferfrist. 9. Elektronische Adresse, unter der die Teilnahmewettbewerbsunterlagen/Vergabeunterlagen abgerufen werden können: unter (URL:): https://www.evergabe.de/unterlagen/54321-Tender-19f7e6f4c93-31c22e66ee1c1cee 10. Ablauf der Angebots- und Bindefrist: Angebote sind einzureichen bis: 18.08.2026 12:00 Ablauf der Bindefrist: 17.09.2026 11. Höhe der etwa geforderten Sicherheitsleistungen: : 12. Wesentliche Zahlungsbedingungen: : Es werden keine Vorauszahlungen geleistet. Es wird akzeptiert: Zahlung unter Abzug von Skonto innerhalb von 14 Tagen, welcher im Preisblatt anzugeben ist, bzw. bei Zahlung innerhalb von 30 Tagen ohne Abzug. 13. Ggf. mit dem Angebot vorzulegende Unterlagen zur Eignungsprüfung des Bewerbers: : Mit Angebotsabgabe sind zur Ermittlung der Eignung folgende Unterlagen einzureichen: Eigenerklärung zur Eignung Erklärung der Bieter-/Arbeitsgemeinschaft (falls zutreffend) Eigenerklärung zum EU-Sanktionspaket Bewerbererklärung gem. RdErl MW 21.11.2008 - 41-3257/03 Eigenerklärung zu Tariftreue, Mindeststundenentgelt und Entgeltgleichheit Eigenerklärung zum Nachunternehmereinsatz 14. Angabe der Zuschlagskriterien: Der niedrigste Preis: Ja 15. Sonstiges: Änderungen und Ergänzungen an den Ihnen übersendeten Vergabeunterlagen sind unzulässig und führen zum Ausschluss des Angebotes von der Wertung. Dies gilt auch für die dem Angebot beigefügten Allgemeinen Geschäfts-, Liefer- oder Zahlungsbedingungen des Bieters oder des möglicherweise eingesetzten Unterauftragnehmers. Ab einem Auftragswert von 30.000 € netto wird vor Zuschlagserteilung durch den Auftraggeber ein Auszug aus dem Wettbewerbsregister beim Bundesamt für Justiz abgerufen.
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10Erweiterung der vorhandenen automatisierten Montage-/Justageanlage -Pick-and-Placer-Upgrade (UV-System & Dispenser)
Technische Hochschule WildauWildauDeadline: Aug 21Die Ex-ante-Veröffentlichung gemäß § 28 Abs. 2 UVgO dient ausschließlich der Transparenz vor der beabsichtigten Direktvergabe. Es wird dadurch kein förmliches Vergabeverfahren mit Teilnahmewettbewerb eröffnet. Weitere Unterlagen werden im Rahmen dieser Bekanntmachung nicht zur Verfügung gestellt. Mit dieser Veröffentlichung wird interessierten Unternehmen die Möglichkeit gegeben, ihr Interesse an der Leistung zu bekunden. Frist für die Einreichung von Interessensbekundungen: Bitte senden Sie Ihre formlose Interessensbekundung unter Angabe Ihrer Kontaktdaten und ggf. relevanter Referenzen per E-Mail an: [email protected] Fristende: 05.08.2026 Nach Ablauf der Frist eingehende Interessensbekundungen können nicht mehr berücksichtigt werden. Hinweis: Diese Bekanntmachung begründet keinen Anspruch auf Beteiligung an einem Vergabeverfahren oder Erteilung eines Auftrags. Die endgültige Entscheidung über die Vergabe bleibt der TH Wildau vorbehalten Die TH Wildau beabsichtigt die folgende Leistung zu vergeben: Lieferung, Integration und Inbetriebnahme eines Upgrades der vorhandenen ficonTEC-Montageanlage (Bestandsanlage, Anlagen-/Projektnr. J10340) um ein UV-Aushärtesystem mit zwei UV-Köpfen, ein neues Pick-Up-Tool (PUT) sowie einen volumetrischen Dispenser. Die Nachrüstung dient der Erweiterung der vorhandenen automatisierten Montage-/Justageanlage um eine UV-Klebstoffaushärtung (mehrkanalig, mit zwei UV-Köpfen) sowie um ein volumetrisches Dosiersystem für die reproduzierbare Klebstoffdosierung. Aufgrund der erforderlichen Kompatibilität mit der Bestandsanlage sind die mechanische Adaption, die Kollisionsprüfung sowie die softwareseitige Einbindung Bestandteil der Leistung. Bestandteil der Leistung sind insbesondere Lieferung, Integration, Installation und Prozessentwicklung sowie die Einweisung des Bedienpersonals durch den Auftragnehmer. Zum Liefer- und Leistungsumfang gehören: I. Lieferung und Integration eines UV-Aushärtesystems mit zwei UV-Köpfen samt Halterungen sowie eines neu konstruierten Pick-Up-Tools (PUT) für die vorhandene Montageanlage, einschließlich der zugehörigen mechanischen und elektrischen Komponenten sowie der Montage- und Prüfleistungen. II. Lieferung und Integration eines volumetrischen Dispensers (Dosiersystems) einschließlich der zugehörigen Hardware und der erforderlichen Anpassungen an der Bestandsanlage. III. Mechanische Adaption und Kollisionsprüfung sowie softwareseitige Einbindung in die Bestandsanlage; Installation, Inbetriebnahme sowie Prozessentwicklung und Prozessunterstützung vor Ort einschließlich Einweisung des Bedienpersonals. IV. Vollständige technische Dokumentation (aktualisierte Anlagendokumentation/Betriebsanleitung, Konformitätserklärung) in deutscher oder englischer Sprache sowie Herstellergarantie von mindestens 12 Monaten (Material und Arbeit). Das zu liefernde Upgrade muss mindestens die folgenden technischen Anforderungen erfüllen: Ausgangs- bzw. Bestandsanlage a. die Nachrüstung erfolgt an der vorhandenen automatisierten ficonTEC-Montage-/Justageanlage (Bestandsanlage, Anlagen-/Projektnr. J10340); sämtliche Komponenten müssen mit dieser Anlage kompatibel und in deren Steuerung integrierbar sein. UV-Aushärtesystem b. UV-Aushärtesystem zur Klebstoffaushärtung mit zwei UV-Köpfen einschließlich der zugehörigen Halterungen. c. mehrkanaliger UV-Controller (mindestens 4 Kanäle) zur Ansteuerung der UV-Köpfe. d. Integration der mechanischen und elektrischen Komponenten in die Bestandsanlage einschließlich Montage und Funktionstest. Pick-Up-Tool (PUT) e. ein neu konstruiertes Pick-Up-Tool (PUT), passend zur Bestandsanlage und zum neuen UV-System. Volumetrischer Dispenser f. volumetrisches Dosiersystem (Dispenser) zur reproduzierbaren Klebstoffdosierung, einschließlich der erforderlichen Hardware und der Integration in die Bestandsanlage. Integration, Installation und Prozess g. mechanische Adaption und Kollisionsprüfung zur konfliktfreien Integration der neuen Komponenten in die Bestandsanlage. h. Installation und Inbetriebnahme vor Ort (mindestens fünf Arbeitstage vor Ort) einschließlich Prozessentwicklung und Prozessunterstützung. i. Einweisung des Bedienpersonals in die neuen Funktionen. Konformität der Gesamtanlage j. nach der Nachrüstung ist die Konformität der geänderten Gesamtanlage (CE) sicherzustellen bzw. die bestehende Konformitätsbewertung entsprechend zu aktualisieren. Alle gelieferten Komponenten müssen vollständig CE-konform sein und den geltenden sicherheitsrelevanten Normen entsprechen.Transmissionselektronenmikroskop (TEM)
Institut für Oberflächen-und Schichttechnik GmbHKaiserslauternDeadline: Aug 17Gegenstand des Beschaffungsvorhabens ist die Lieferung, Installation, Inbetriebnahme sowie betriebsbereite Übergabe eines aberrationskorrigierten 200 kV Transmissionselektronenmikroskops (S/TEM) einschließlich analytischer Detektorsysteme, Schulung und vollständiger Systemdokumentation. Das System dient als zentrale Analyseplattform für die hochauflösende strukturelle, chemische und elektronische Charakterisierung von Materialien auf atomarer und nanometergenauer Skala. Es wird sowohl für industrielle Auftragsanalytik als auch für wissenschaftliche Forschungsprojekte eingesetzt. Im Institut werden Materialien mit stark variierenden Eigenschaften untersucht, insbesondere Metalle, Legierungen, keramische Werkstoffe, Halbleiter, Beschichtungen, funktionale Schichtsysteme sowie nanostrukturierte Materialien. Die Proben unterscheiden sich hinsichtlich Geometrie, Stabilität gegenüber Elektronenstrahlbelastung sowie analytischer Fragestellungen. Ein besonderer Schwerpunkt liegt auf: - hochauflösender Abbildung bis in den atomaren Bereich - chemischer Analytik mittels EDX und EELS - Untersuchung von Grenzflächen und Defekten - Untersuchung magnetischer und funktionaler Materialien - reproduzierbaren Messungen über Probenserien hinweg Darüber hinaus ist eine strukturierte Erfassung und Exportfähigkeit von Messdaten und Metadaten in gängige, nicht-proprietäre Formate erforderlich, um Anforderungen an Nachvollziehbarkeit, Langzeitverfügbarkeit und Forschungsdatenmanagement (FAIR-Prinzipien) zu erfüllen. Das System muss die hochauflösende strukturelle, chemische und elektronische Analyse von festen, elektronenstrahlstabilen Proben im Transmissionselektronenmikroskopie- und Raster-Transmissionselektronenmikroskopie-Modus ermöglichen. Hierzu muss es eine präzise Elektronenoptik, stabile Betriebsbedingungen sowie integrierte analytische Detektionssysteme bereitstellen. Ziel ist die Untersuchung von Materialien bis in den atomaren Maßstab sowie die quantitative und qualitative Analyse von Struktur, Zusammensetzung und elektronischen Eigenschaften. Folgende Kernfunktionen sind zwingend bereitzustellen: 1. Hochauflösende Abbildung (TEM und STEM): - Abbildung von Kristallstrukturen, Defekten, Grenzflächen und Nanostrukturen mit atomarer bzw. sub-nanometergenauer Auflösung. - Betrieb sowohl im konventionellen TEM- als auch im STEM-Modus. - Flexible Wahl geeigneter Abbildungsmodi (z. B. Bright Field, Dark Field, HAADF, ABF, Oberflächenbildgebung mit topografieabhängigem Kontrast). 2. Chemische und spektroskopische Analytik: - Elementanalytik mittels energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDX). - Analyse elektronischer und chemischer Zustände mittels Elektronenenergieverlustspektroskopie (EELS). - Durchführung von Punktanalysen, Linienprofilen sowie zweidimensionalem Mapping. 3. Untersuchung von Grenzflächen und Defekten: - Analyse von Phasengrenzen, Ausscheidungen, Korngrenzen und strukturellen Inhomogenitäten. - Untersuchung lokaler chemischer Variationen auf nanoskaliger Ebene. 4. Untersuchung funktionaler und magnetischer Materialien: - Möglichkeit zur magnetfeldfreien oder feldarmen Abbildung (z. B. Lorentz-Modus oder funktional gleichwertig), soweit erforderlich. 5. Automatisierter und reproduzierbarer Betrieb: - Reproduzierbare Einstellung von Messparametern und Speicherung von Messabläufen. - Unterstützung automatisierter Messreihen und Mapping-Experimente. 6. Workflow und Datenmanagement: - Eindeutige Zuordnung von Messdaten, Parametern und Metadaten. - Möglichkeit zur späteren Reproduktion von Messbedingungen. 7. Integration aller Detektoren und Betriebsmodi in eine konsistente Bedienumgebung.Dual Beam Focused Ion Beam System (FIB) und Transmissionselektronenmikroskop (TEM)
Institut für Oberflächen-und Schichttechnik GmbHKaiserslauternDeadline: Aug 17Ziel dieses Beschaffungsvorhabens ist die Lieferung, Installation, Inbetriebnahme sowie betriebsbereite Übergabe eines Dual-Beam-FIB/REM-Systems (Focused Ion Beam / Rasterelektronenmikroskop) einschließlich analytischer Detektorsysteme, Schulung und vollständiger Systemdokumentation. Das System dient primär der präzisen Probenpräparation (u.a. TEM-Lamellen, APT-Spitzen, Querschnitte und Defektfreilegungen) und sekundär der hochauflösenden bildgebenden, chemischen und strukturellen Charakterisierung (SEM, EDX, STEM, EBSD) im selben System. Das Gerät wird als zentrale Präparations- und Analyseplattform für wissenschaftliche Forschungsprojekte eingesetzt. Typische Anwendungen umfassen u. a. Batterie- und Elektrodenmaterialien, Wasserstoffspeichermaterialien, katalytische Schichten, Metalle/Legierungen, keramische Werkstoffe, Halbleiter, Beschichtungen und Multilayer-Systeme. Ein besonderer Schwerpunkt liegt auf: - reproduzierbarer, möglichst automatisierter TEM-Lamellen- und APT-Präparation (Lift-Out, Thinning, Polishing) - 3D-Analytik (Serienschliff/Tomographie) mit quantitativer Auswertung - hochaufgelöster Abbildung in verschiedenen SEM-Modi incl. Ioneninduzierter Sekundärionen sowie korrelierter Bildgebung während der Bearbeitung - chemischer Analytik mittels EDX und kristallographischer Analytik mittels EBSD Darüber hinaus ist eine strukturierte Erfassung und Exportfähigkeit von Messdaten und Metadaten in gängige, nicht-proprietäre Formate erforderlich, um Anforderungen an Nachvollziehbarkeit, Langzeitverfügbarkeit und Forschungsdatenmanagement (FAIR-Prinzipien) zu erfüllen. Das System muss die präzise Probenpräparation und -strukturierung mittels Ionenstrahl sowie die begleitende und nachfolgende Abbildung und Analytik mittels SEM und anderen Detektorsystemen ermöglichen. Ziel ist die reproduzierbare Präparation von Proben für TEM und APT sowie die Durchführung von 2D/3D-Analysen (Bildgebung (SE, STEM), EDX, EBSD) einschließlich vollständiger Dokumentation der Bearbeitungs- und Messparameter. Folgende Kernfunktionen sind zwingend bereitzustellen: 1. Materialabtrag/Strukturierung (manuell und automatisiert) mit definierbaren Pattern- und Rezeptfunktionen. 2. TEM-Lamellenpräparation inkl. In-situ Lift-Out, Thinning und abschließender Feinpolitur. 3. APT-Spitzenpräparation (Needle Milling) inkl. reproduzierbarer Geometrie. 4. Korrelierte Echtzeit-Bildgebung im SEM während der FIB-Bearbeitung (Navigation/Endpunktkontrolle). 5. Chemische Analytik mittels EDX sowie kristallographische Analytik mittels EBSD (Punkt, Linie, Mapping). 6. 3D-Workflows (Serienschliff/Tomographie) mit dokumentierter Rekonstruktion bzw. Export der Datensätze. 7. Workflow und Datenmanagement: eindeutige Zuordnung von Bearbeitungs-/Messdaten, Parametern und Metadaten; Export in nicht proprietäre Formate.Upgrade SAXS System
Institute of Science and Technology Austria (ISTA)KlosterneuburgUpgrade of a small angle X-ray scattering (SAXS) with Metal Jet source and a wide-angle detector - The first upgrade is installation of additional, stronger (higher flux) source in order to allow for high resolution small-angle measurements, in order to elucidate unambiguously determine structure of nanoparticle assemblies. The second upgrade is with additional wide-angle X-ray scattering (WAXS) detector in order to allow, in combination with current detector, for simultaneous measurement of short-range (atomic level) and long-range order.Upgrade Agilis Mini
Kristin Schwencke1. Allgemeine Informationen: Titel: Upgrade Agilis Mini 2. Auftraggeber: Name des Auftraggebers: Kristin Schwencke; Straße, Hausnummer: Helmholtzstr. 20 IFW Dresden - Kristin Schwencke; PLZ: 01069; Ort: Dresden; Land: Deutschland; Telefon: +49 3514659364; E-Mail: [email protected] 3. Vergabeverfahren: Vergabeart/Rechtsrahmen: Freihändige Vergabe ohne Teilnahmewettbewerb - VOL/A; Vergabenummer: 2262465 4. Auftragsgegenstand: CPV-Code: 38000000; Art und : Upgrade Agilis 5. Ausführungsort: PLZ: 01069; Ort: Dresden; Land: Deutschland 6. Ausführungszeitraum: Zeitraum der Ausführung: Okt. 2026 7. Auftragnehmer: Name des Auftragnehmers: Agnitron; Straße, Hausnummer: 8360 Commerce Drive; PLZ: 55317; Ort: Chanhausen; Land: Vereinigte Staaten 8. Zusätzliche Angaben: Datum, bis zu dessen Ablauf die Bekanntmachung sichtbar bleiben soll: 16.10.2026 Labortechnik/ MesstechnikTTV-Upgrade (ISIT07.a1)
Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. - Einkauf B12 - Vergabestelle BauMünchenTTV-Upgrade (ISIT07.a1)Upgrade des Zeiss LSM 980
Helmholtz-Zentrum für Infektionsforschung GmbHBraunschweigBeschafft wurde ein Upgrade eines bestehenden ZeissLSM 980. Zeiss Upgrade LSM 980ALD System Upgrade (IPMS-CNT06.2)
Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12MünchenUpgrade des ALD-Systems Pulsar mit einer zusätzlichen Kammer an bestehendem Mainframe XP4 und bereits vorhandenen Kammern Pulsar und EmerALD. Das Gerät muss kontinuierlich die vorgesehenen Funktionen in Übereinstimmung mit allen in dieser EPS spezifizierten Anforderungen ohne Fehlfunktionen oder Ausfälle ausführen. Es wird gefordert, dass das Gerät mit allen nachfolgend beschriebenen Komponenten und Teilen geliefert wird, die notwendig sind, damit das Gerät die vorgesehenen Funktionen und Fähigkeiten gemäß allen in dieser EPS genannten Anforderungen erfüllen kann. Die Optionen umfassen einen zusätzlichen Loadport, Waferrotation/Waferindexer, Insitu-Ellipsometer-Einbauöffnungen, einen Notch Aligner und alternative Al-Quellen.Supply of Underwater PIV System Upgrade
Technische Universiteit DelftDelftUpgrade des bestehenden Unterwasser-PIV-Systems im Schiffshydromechanischen Labor der Fakultät für Maschinenbau, einschließlich hochauflösender Kameras (ca. 25 MPixel), Linsen und optischer Komponenten, Montagesystemen, Softwaremodulen sowie Integration mit bestehendem Hardware- und Software-Infrastruktur.Upgrade SAXS System mit Metal Jet Quelle und Weitwinkeldetektor
Institute of Science and Technology AustriaKlosterneuburgUpgrade of a small angle X-ray scattering (SAXS) with Metal Jet source and wide-angle detector - The first upgrade is installation of additional, stronger (higher flux) source in order to allow for high resolution small-angle measurements. The second upgrade is with additional wide-angle X-ray scattering (WAXS) detector in order to allow, in combination with current detector, for simultaneous measurement of short- and long-range order.
Frequently asked questions about this tender
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- What is the submission deadline?
- The submission deadline is 18. August 2026.
- Who is the contracting authority?
- The contracting authority is Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg, Abteilung 2 - Finanzen, Zentrale Auftragsvergabe.
- Which documents are needed to get started?
- Typically you need the service description, proof of eligibility, deadline notes and possibly form sheets. On Auftrag One these items are displayed in prioritized order.