Fraunhofer ENAS
hochauflösende TEM-Untersuchungen von Sensorbauteilen und Feldeffekttransistoren
Beschaffung hochauflösender TEM-Untersuchungen von Querschnitten an Sensorbauteilen und Feldeffekttransistoren zur Analyse von Metall-Oxid- und CNT-Grenzflächen.
Submission deadline: May 21, 2026 (expired)Type: Tender
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Beschaffung hochauflösender TEM-Untersuchungen von Querschnitten an Sensorbauteilen und Feldeffekttransistoren zur Analyse von Metall-Oxid- und CNT-Grenzflächen.
- Tender type:
- Tender
- Contracting authority:
- Fraunhofer ENAS
- Published:
- May 05, 2026
- Deadline:
- May 21, 2026
Tender description
Beschaffung hochauflösender TEM-Untersuchungen von Querschnitten an Sensorbauteilen und Feldeffekttransistoren zur Analyse von Metall-Oxid- und CNT-Grenzflächen.
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