Fraunhofer ENAS
hochauflösende TEM-Untersuchungen von Sensorbauteilen und Feldeffekttransistoren
Beschaffung hochauflösender TEM-Untersuchungen von Querschnitten an Sensorbauteilen und Feldeffekttransistoren zur Analyse von Metall-Oxid- und CNT-Grenzflächen.
Angebotsfrist: 21. Mai 2026 (abgelaufen)Typ: Ausschreibung
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Inhalt auf einen Blick
Beschaffung hochauflösender TEM-Untersuchungen von Querschnitten an Sensorbauteilen und Feldeffekttransistoren zur Analyse von Metall-Oxid- und CNT-Grenzflächen.
- Ausschreibungstyp:
- Ausschreibung
- Auftraggeber:
- Fraunhofer ENAS
- Veröffentlicht:
- 05. Mai 2026
- Frist:
- 21. Mai 2026
Ausschreibungsbeschreibung
Beschaffung hochauflösender TEM-Untersuchungen von Querschnitten an Sensorbauteilen und Feldeffekttransistoren zur Analyse von Metall-Oxid- und CNT-Grenzflächen.
Weiterführende Details
Nach Registrierung stehen Unterlagen, Fristen und Hinweise zur Einreichung strukturiert bereit.
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- Fristen, Eignungskriterien und Unterlagen in einem Ablauf
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Dokumente und Anhänge
2 Dateien erfasst- Bekanntmachung
- 25321768
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- Der Auftraggeber ist Fraunhofer ENAS.
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