Forschungszentrum Jülich GmbH -Team Dienstleistung-JülichTED
W60-42402159 TESCAN AMBER 2 GMU UHR FIB-SEM und Zubehör für das IFN-1.
TESCAN AMBER 2 GMU UHR FIB-SEM und Zubehör für das IFN-1.
Typ: Ausschreibung
Laborinstrumente
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Inhalt auf einen Blick
TESCAN AMBER 2 GMU UHR FIB-SEM und Zubehör für das IFN-1.
- Ausschreibungstyp:
- Ausschreibung
- Auftraggeber:
- Forschungszentrum Jülich GmbH -Team Dienstleistung-
- Veröffentlicht:
- 21. Mai 2026
- Frist:
- Nicht angegeben
- Thema:
- Laborinstrumente
Ausschreibungsbeschreibung
TESCAN AMBER 2 GMU UHR FIB-SEM und Zubehör für das IFN-1.
Weiterführende Details
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Wartungsverträge für das TESCAN AMBER 2 GMH-SEM des IFN-1 für das 3. und 4. Nutzungsjahr.
Wartungsverträge für das TESCAN AMBER 2 GMH-SEM des IFN-1 für das 3. und 4. Nutzungsjahr. - Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12Fraunhofer Institute for Solar Energy Systems ISE Heidenhofstraße 2 79110 FreiburgFrist: 24. Juli
FIB & SEM system (HHI-01)
Beschreibung: 1 Stück FIB-SEM Dualbeam System Im Rahmen der Beschaffung soll ein feldfreies (ohne Immersionsoptik) fokussiertes Ionenstrahlsystem (FIB-SEM) in Kombination mit einem hochauflösenden Rasterelektronenmikroskop (FIB-SEM) ausgewählt werden. Das System wird für die Strukturierung, Nanostrukturierung sowie Querschnitts- und Oberflächenanalyse von vorwiegend III/V-Halbleitern, LNOI, Polymeren sowie Resists und für die Halbleitertechnik typischen Prozessprodukten eingesetzt. Programmierbare und automatisierte Routinen sollten nach Möglichkeit konfigurierbar sein. Optionen - Fortgeschrittenenschulung für 15 Tage (2 Personen), Abfrage der Kontingente nach Bedarf - 1 Gasinjektionssystem mit weiteren Elementen, wird im Rahmen der Ausschreibung festgelegt - Softwaremodul zum Import von KLAF-Dateien - Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. - Einkauf B12 - Vergabestelle BauMünchenFrist: 24. Juli
FIB & SEM system (HHI-01) - PR1216644-3220-P
1 Stück FIB-SEM Dualbeam System Im Rahmen der Beschaffung soll ein feldfreies (ohne Immersionsoptik) fokussiertes Ionenstrahlsystem (FIB-SEM) in Kombination mit einem hochauflösenden Rasterelektronenmikroskop (FIB-SEM) ausgewählt werden. Das System wird für die Strukturierung, Nanostrukturierung sowie Querschnitts- und Oberflächenanalyse von vorwiegend III/V-Halbleitern, LNOI, Polymeren sowie Resists und für die Halbleitertechnik typischen Prozessprodukten eingesetzt. Programmierbare und automatisierte Routinen sollten nach Möglichkeit konfigurierbar sein. Optionen - Fortgeschrittenenschulung für 15 Tage (2 Personen), Abfrage der Kontingente nach Bedarf - 1 Gasinjektionssystem mit weiteren Elementen, wird im Rahmen der Ausschreibung festgelegt - Softwaremodul zum Import von KLAF-Dateien - Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. - Einkauf B12 - Vergabestelle BauMünchen
FIB & SEM system (HHI-01) - PR1216644-3220-P
1 Stück FIB-SEM Dualbeam System Im Rahmen der Beschaffung soll ein feldfreies (ohne Immersionsoptik) fokussiertes Ionenstrahlsystem (FIB-SEM) in Kombination mit einem hochauflösenden Rasterelektronenmikroskop (FIB-SEM) ausgewählt werden. Das System wird für die Strukturierung, Nanostrukturierung sowie Querschnitts- und Oberflächenanalyse von vorwiegend III/V-Halbleitern, LNOI, Polymeren sowie Resists und für die Halbleitertechnik typischen Prozessprodukten eingesetzt. Programmierbare und automatisierte Routinen sollten nach Möglichkeit konfigurierbar sein. Im Rahmen der Ausschreibung soll das neue System installiert werden. Darüber hinaus sind am Aufstellungsort des Systems Raummessungen durchzuführen. Die Raummessungen sollten Bodenvibrationen, akustische Störungen und magnetische Störungen umfassen. Der Bieter verpflichtet sich, durch entsprechende Vorbereitungsmaßnahmen am Aufstellungsort sicherzustellen, dass die Gerätespezifikationen und die Prozessspezifikation (Prozessgas) eingehalten werden. Optionen - Fortgeschrittenenschulung für 15 Tage (2 Personen), Abfrage der Kontingente nach Bedarf - 1 Gasinjektionssystem mit weiteren Elementen, wird im Rahmen der Ausschreibung festgelegt - Softwaremodul zum Import von KLAF-Dateien - Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. - Einkauf B12 - Vergabestelle BauMünchenFrist: 31. Juli
FIB & SEM system (HHI-01) - PR1216644-3220-P
1 Stück FIB-SEM Dualbeam System Im Rahmen der Beschaffung soll ein feldfreies (ohne Immersionsoptik) fokussiertes Ionenstrahlsystem (FIB-SEM) in Kombination mit einem hochauflösenden Rasterelektronenmikroskop (FIB-SEM) ausgewählt werden. Das System wird für die Strukturierung, Nanostrukturierung sowie Querschnitts- und Oberflächenanalyse von vorwiegend III/V-Halbleitern, LNOI, Polymeren sowie Resists und für die Halbleitertechnik typischen Prozessprodukten eingesetzt. Programmierbare und automatisierte Routinen sollten nach Möglichkeit konfigurierbar sein. Im Rahmen der Ausschreibung soll das neue System installiert werden. Darüber hinaus sind am Aufstellungsort des Systems Raummessungen durchzuführen. Die Raummessungen sollten Bodenvibrationen, akustische Störungen und magnetische Störungen umfassen. Der Bieter verpflichtet sich, durch entsprechende Vorbereitungsmaßnahmen am Aufstellungsort sicherzustellen, dass die Gerätespezifikationen und die Prozessspezifikation (Prozessgas) eingehalten werden. Optionen - Fortgeschrittenenschulung für 15 Tage (2 Personen), Abfrage der Kontingente nach Bedarf - 1 Gasinjektionssystem mit weiteren Elementen, wird im Rahmen der Ausschreibung festgelegt - Softwaremodul zum Import von KLAF-Dateien - Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. - Einkauf B12 - Vergabestelle BauMünchenFrist: 24. Juli
FIB & SEM system (HHI-01) - PR1216644-3220-P
1 Stück FIB-SEM Dualbeam System Im Rahmen der Beschaffung soll ein feldfreies (ohne Immersionsoptik) fokussiertes Ionenstrahlsystem (FIB-SEM) in Kombination mit einem hochauflösenden Rasterelektronenmikroskop (FIB-SEM) ausgewählt werden. Das System wird für die Strukturierung, Nanostrukturierung sowie Querschnitts- und Oberflächenanalyse von vorwiegend III/V-Halbleitern, LNOI, Polymeren sowie Resists und für die Halbleitertechnik typischen Prozessprodukten eingesetzt. Programmierbare und automatisierte Routinen sollten nach Möglichkeit konfigurierbar sein. Im Rahmen der Ausschreibung soll das neue System installiert werden. Darüber hinaus sind am Aufstellungsort des Systems Raummessungen durchzuführen. Die Raummessungen sollten Bodenvibrationen, akustische Störungen und magnetische Störungen umfassen. Der Bieter verpflichtet sich, durch entsprechende Vorbereitungsmaßnahmen am Aufstellungsort sicherzustellen, dass die Gerätespezifikationen und die Prozessspezifikation (Prozessgas) eingehalten werden. Optionen - Fortgeschrittenenschulung für 15 Tage (2 Personen), Abfrage der Kontingente nach Bedarf - 1 Gasinjektionssystem mit weiteren Elementen, wird im Rahmen der Ausschreibung festgelegt - Softwaremodul zum Import von KLAF-Dateien - Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. - Einkauf B12 - Vergabestelle BauMünchen
FIB & SEM system (HHI-01) - PR1216644-3220-P
1 Stück FIB-SEM Dualbeam System Im Rahmen der Beschaffung soll ein feldfreies (ohne Immersionsoptik) fokussiertes Ionenstrahlsystem (FIB-SEM) in Kombination mit einem hochauflösenden Rasterelektronenmikroskop (FIB-SEM) ausgewählt werden. Das System wird für die Strukturierung, Nanostrukturierung sowie Querschnitts- und Oberflächenanalyse von vorwiegend III/V-Halbleitern, LNOI, Polymeren sowie Resists und für die Halbleitertechnik typischen Prozessprodukten eingesetzt. Programmierbare und automatisierte Routinen sollten nach Möglichkeit konfigurierbar sein. Im Rahmen der Ausschreibung soll das neue System installiert werden. Darüber hinaus sind am Aufstellungsort des Systems Raummessungen durchzuführen. Die Raummessungen sollten Bodenvibrationen, akustische Störungen und magnetische Störungen umfassen. Der Bieter verpflichtet sich, durch entsprechende Vorbereitungsmaßnahmen am Aufstellungsort sicherzustellen, dass die Gerätespezifikationen und die Prozessspezifikation (Prozessgas) eingehalten werden. Optionen - Fortgeschrittenenschulung für 15 Tage (2 Personen), Abfrage der Kontingente nach Bedarf - 1 Gasinjektionssystem mit weiteren Elementen, wird im Rahmen der Ausschreibung festgelegt - Softwaremodul zum Import von KLAF-Dateien - Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. - Einkauf B12 - Vergabestelle BauMünchenFrist: 24. Juli
FIB & SEM system (HHI-01) - PR1216644-3220-P
1 Stück FIB-SEM Dualbeam System (feldfreies fokussiertes Ionenstrahlsystem ohne Immersionsoptik) in Kombination mit einem hochauflösenden Rasterelektronenmikroskop zur Strukturierung, Nanostrukturierung sowie Querschnitts- und Oberflächenanalyse von III/V-Halbleitern, LNOI, Polymeren, Resists und Halbleiterprozessprodukten. Inklusive Raummessungen (Bodenvibrationen, akustische und magnetische Störungen) am Aufstellungsort. Optionen: Fortgeschrittenenschulung (15 Tage für 2 Personen), - Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12München
FIB & SEM system (HHI-01) - PR1216644-3220-P
1 FIB-SEM dual-beam system As part of the procurement process, a field-free (without immersion optics) focused ion beam system (FIB-SEM) combined with a high-resolution scanning electron microscope (SEM) is to be selected. The system will be used for patterning, nanostructuring, and cross-sectional and surface analysis of primarily III/V semiconductors, LNOI, polymers and resists, as well as process products typical of semiconductor technology. Programmable and automated routines should be configurable where possible. Options - Advanced training course for 15 days (2 people); availability to be confirmed as required - 1 gas injection system with additional components; to be specified in the tender - Software module for importing KLAF files - University College CorkCork
Supply, Delivery and Installation of a Transmission Electron Microscopy (TEM) Suite consisting of 2 TEM tools and 1 Focused Ion Beam–Scanning Electron Microscope (FIB.SEM) for Tyndall Instit, UCC,
Procurement of a TEM suite (2 TEMs, 1 FIB-SEM) for Tyndall National Institute, UCC. Includes aberration-corrected TEM with sub-ångström resolution, 200 kV high-throughput TEM, and FIB-SEM. Supports nanoscale research in semiconductors, photonics, and quantum materials. Enhances analytical capabilities for EU Chips Act projects and industrial collaborations. Part of new lab facilities requiring advanced imaging modes (low-dose, 4D-STEM) and in-situ experimentation.
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- Der Auftraggeber ist Forschungszentrum Jülich GmbH -Team Dienstleistung-.
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