Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V., IKTSDresden
PROFILOMETER MIT INTEGRIERTER OPTISCHER KONFOKALEINHEIT (PR1255677)
Profilometer mit integrierter optischer Konfokaleinheit für großflächige Vermessungen und hochauflösende Oberflächenanalysen
Messtechnik
Ohne Kreditkarte · Sofortiger Zugang
Inhalt auf einen Blick
- Ausschreibungstyp:
- Ausschreibung
- Auftraggeber:
- Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V., IKTS
- Veröffentlicht:
- 31. August 2026
- Frist:
- 18. September 2026
- Thema:
- Messtechnik
Ausschreibungsbeschreibung
Profilometer mit integrierter optischer Konfokaleinheit für großflächige Vermessungen und hochauflösende Oberflächenanalysen
Weiterführende Details
Mit dem kostenlosen Zugang stehen Unterlagen, Fristen und Hinweise zur Einreichung strukturiert bereit.
- Kernanforderungen der Ausschreibung priorisiert aufbereitet
- Fristen, Eignungskriterien und Unterlagen in einem Ablauf
- Hinweise zur strukturierten Angebotsvorbereitung
- Passende Folgeausschreibungen automatisch entdecken
30 Tage kostenlos · keine Kreditkarte · jederzeit kündbar
Alle Vergabedetails
Auftraggeber, Lose, Beteiligte, Orte, Unterlagen und Verfahrensdaten sind bereits erfasst. Öffnen Sie einen Bereich, um die vollständigen Angaben im Workspace zu sehen.
4 Datenbereiche verfügbar
30 Tage kostenlos · keine Kreditkarte · jederzeit kündbar
Unterlagen
Freischalten1 Angabe erfasstDokumentenpaket
Auftraggeber
Freischalten3 Angaben erfasstAuftraggeber · Anschrift · Kontakt
Verfahrensdaten
Freischalten5 Angaben erfasstBekanntmachungsnummer · Referenz des Auftraggebers · Verfahrensart · Auftragsart · +1 weitere
Ausführungsorte
Freischalten1 Angabe erfasstAusführungsorte
Ähnliche Bekanntmachungen
10Profilometer (optisch) - PR1245725-2050-W
Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. - Einkauf B12 - Vergabestelle BauMünchenFrist: 30. Sept.Profilometer (optisch) 1 pc.Optisches 3D-Messsystem
TU DresdenDresdenFrist: 16. Sept.Beschaffung eines mobilen optischen 3D-Messsystems zur Digitalisierung großflächiger metallischer Oberflächen.Lieferung, Installation und Inbetriebnahme eines optischen Videoextensometers einschließlich Softwareintegration
Technische Universität BerlinBerlinLieferleistung - Lieferung, Installation und Inbetriebnahme eines optischen Videoextensometers einschließlich SoftwareintegrationBeschaffung von 2 Stück SWIR-Kameras für optisches Projekt
IOFFrist: 26. Aug.Beschreibung für die Anwendung in einem optischen Projekt (Sensorik) ist die Beschaffung von 2 Stück SWIR- Kameras erforderlichBeschaffung von 2 SWIR-Kameras InGaAs für optisches Projekt
IOFFrist: 26. Aug.für die Anwendung in einem optischen Projekt (Sensorik) ist die Beschaffung von 2 Stück SWIR-Kameras erforderlich SWIR Kameras InGaAsOptische Emissionsspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma
Karlsruher Institut für TechnologieKarlsruheFrist: 04. Sept.Das IAM - ESS - Institute for Applied Materials - Energy Storage Systems am Karlsruher Institut für Technologie (KIT) plant die Anschaffung eines Geräts für die Optische Emissionsspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma. Im Rahmen der Installation von CELEST - CERL (Circular Economy Recycling Lab) soll ein kompaktes ICP-OES Tischgerät zur simultanen, quantitativen Bestimmung von Ionenkonzentrationen angeschafft werden. Der Hauptanwendungsbereich liegt in wässrigen Lösungen von Batteriematerialien, Lösungen aus Batterierecyclingprozessen und Lösungen mit hohen Salzgehalten z.B. aus geothermalen Tiefenwässern. Dabei sollen insbesondere die Konzentration von Li, Na, Mg, Al, Si, P, K, Ca, Cr, Fe, Ni, Co, Mn, Cu, Ti, Zr, Pb, B, V, und Nd quantitativ bestimmt werden. Weitere Details siehe Anlage "Technische Spezifikation"Abstimmbare Laserlichtquelle für das Nahinfrarot
Friedrich-Schiller-Universitat JenaJenaJenaFrist: 16. Sept.Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beabsichtigt für Ihre wissenschaftliche Tätigkeit den Kauf einer abstimmbaren Laserlichtquelle, um das Transmissions- und Streuverhalten passiver integriert-optischer Schaltkreise, wie etwa Mikroringresonatoren mit hohen Gütezahlen, hochaufgelöst und über einen breiten Wellenlängenbereich vermessen zu können. Aus diesen technischen Randbedingungen ergeben sich die folgenden Anforderungen: siehe Anlage 2.Vektor-Netzwerlanalysator
Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. - Einkauf B12 - Vergabestelle BauMünchenFrist: 21. Sept.Das Fraunhofer-Institut HHI schreibt einen Auftrag über ein Vektor-Netzwerkanalysator bis 67 GHz aus. Zur Charakterisierung und Optimierung hochfrequenter elektro-optischer Bauelemente auf integrierten photonischen Plattformen wird ein Vektor-Netzwerkanalysator (VNA) mit einem Frequenzbereich bis mindestens 67 GHz benötigt. Das System soll insbesondere für die Charakterisierung von Traveling-Wave-Mach-Zehnder-Modulatoren sowie zugehörigen HF-Strukturen eingesetzt werden, deren elektrische und elektro-optische Bandbreiten im Bereich bis und über 60 GHz liegen. Erforderlich sind präzise 2-Port-S-Parameter-Messungen, ein hoher Dynamikbereich, geringes Trace Noise sowie reproduzierbare Kalibrier- und Messabläufe. Die Anforderungen sind herstellerneutral formuliert, damit Angebote verschiedener Anbieter vergleichbar eingeholt und bewertet werden können.Vergabeverfahren zur Lieferung einer Gasphasenabscheidungsanlage
Universität HeidelbergHeidelbergFrist: 05. Okt.Ausgeschrieben wird die Lieferung und betriebsfertige Übergabe inkl. Funktionstest, Einweisung und Abnahme eines Systems für plasma-verstärkte chemische Gasphasenabscheidung (PECVD) mit einer induktiv gekoppelten Plasmaquelle (ICP) zur Herstellung qualitativ hochwertiger Materialfilme mit präzise definierten Schichtdicken im Nanometer-Mikrometerbereich. Das geplante ICP-PECVD System soll die gezielte Abscheidung von dielektrische Dünnfilmen mit steuerbaren optischen Eigenschaften und präzise kontrollierbaren Schichtdicken durch in-situ Monitoring ermöglichen. Hochwertige dielektrische Schichten für optische Passivierungen, optische Wellenleiter und Mehrlagensysteme sowie als Hartmasken für hochauflösende Lithographieverfahren sollen abgeschieden werden. Im Rahmen unserer Forschungsarbeiten sollen Siliziumdioxid, Siliziumnitrid, amorphes Silizium und diamantähnliche Kohlenstoffschichten mit einer neuen Anlage optimiert abgeschieden werden können. Aufgrund der Vorgaben des Bewilligungsverfahrens für Großgeräte sind die maximal zur Verfügung stehenden Finanzmittel begrenzt und enden bei 806.000,- EUR (einschließlich Mehrwertsteuer oder vergleichbar, Zölle und etwaigen Skonti). Angebote, die diesen Grenzwert überschreiten, können nicht berücksichtigt werden. Kalkulatorisch anzugebende Mehrwertsteuer und Zölle sind Bestandteil des Grenzwerts. Die angebotene Leistung umfasst folgende Positionen: - Angebot und Lieferung eines Neugerätes bzw. Neuware - Fristgerechte Lieferung und vollständige Aufstellung an der Verwendungsstelle. - Entsorgung von Verpackungen und überzähligen Bestandteilen. - Funktionstest bzw. Demonstration sowie Einweisung und Inbetriebnahme. - Abnahme des Gerätes beim Kunden vor Ort - Schulung vor Ort (3 Tage á 8 Stunden) für 2 Mitarbeiter der Universität Heidelberg.Lieferung eines SWIR Spektrometers
Forschungsverbund Berlin e.V.BerlinFrist: 19. Aug.Zur Verfügung gestellte KapazitätenRow1: Ort Datum Unterschrift1: Check Box1: Off Check Box2: Off Check Box3: Off Check Box4: Off Text2: Text3: Text4: Text5: Text6: Text7:
Häufige Fragen zu dieser Ausschreibung
- Wie kann ich mich auf diese Ausschreibung bewerben?
- Erstellen Sie ein kostenloses Konto auf Auftrag One. Danach sehen Sie alle Unterlagen, Fristen und Hinweise zur Einreichung in einem strukturierten Ablauf.
- Bis wann läuft die Angebotsfrist?
- Die Angebotsfrist endet am 18. September 2026.
- Wer ist der Auftraggeber?
- Der Auftraggeber ist Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V., IKTS.
- Welche Unterlagen sind für den Start relevant?
- In der Regel benötigen Sie Leistungsbeschreibung, Eignungsnachweise, Fristenhinweise und ggf. Formblätter. Auf Auftrag One werden diese Punkte priorisiert dargestellt.