Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V.ErlangenTED
Inline automatic optical inspection (AOI) with high-speed Analysis for QMI systems
Beschaffung eines modularen, vollautomatischen Probers für optische Inspektion und elektrische Kontaktierung von elektronischen, photonischen und mikromechanischen Bauteilen (inkl. quasi-monolithischer Integration). Das System verarbeitet 200-mm-Wafer, Rahmen, Tapes und Trays. Inklusive automatischem Carrier-Handling, Vakuum-Chuck, Testka...
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Inhalt auf einen Blick
Beschaffung eines modularen, vollautomatischen Probers für optische Inspektion und elektrische Kontaktierung von elektronischen, photonischen und mikromechanischen Bauteilen (inkl. quasi-monolithischer Integration). Das System verarbeitet 200-mm-Wafer, Rahmen, Tapes und Trays. Inklusive automatischem Carrier-Handling, Vakuum-Chuck, Tes...
- Ausschreibungstyp:
- Ausschreibung
- Auftraggeber:
- Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V.
- Veröffentlicht:
- 19. Februar 2026
- Frist:
- 02. März 2026
Ausschreibungsbeschreibung
Beschaffung eines modularen, vollautomatischen Probers für optische Inspektion und elektrische Kontaktierung von elektronischen, photonischen und mikromechanischen Bauteilen (inkl. quasi-monolithischer Integration). Das System verarbeitet 200-mm-Wafer, Rahmen, Tapes und Trays. Inklusive automatischem Carrier-Handling, Vakuum-Chuck, Testkarten-Schnittstelle, automatischer Ausrichtung und programmierbarer Software. Zudem ist eine mechanische Schnittstelle für kundenseitige optische Module vorhanden.
Weiterführende Details
Nach Registrierung stehen Unterlagen, Fristen und Hinweise zur Einreichung strukturiert bereit.
- Kernanforderungen der Ausschreibung priorisiert aufbereitet
- Fristen, Eignungskriterien und Unterlagen in einem Ablauf
- Hinweise zur strukturierten Angebotsvorbereitung
- Passende Folgeausschreibungen automatisch entdecken
Dokumente und Anhänge
49 Dateien erfasst- PDF Notice (BUL)
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- PDF Notice (DEU)
- PDF Notice (EST)
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Beschaffung eines modularen, vollautomatischen Probers für die optische Inspektion und elektrische Kontaktierung von elektronischen, photonischen und mikromechanischen Bauteilen (inkl. quasi-monolithischer Integration). Das System verarbeitet 200-mm-Wafer, Rahmen, Tapes und Trays. Inklusive automatischem Carrier-Handling, Testkarten-Schnittstelle, automatischer Ausrichtung und einer mechanischen Schnittstelle für kundeneigene optische Module. Der Bereich über der Probe-Platte muss frei bleiben. - Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V.ErlangenFrist: 11. März
Inline automatic optical inspection (AOI) with high-speed Analysis for QMI systems
Modular, fully automated prober for optical inspection and electrical contact of electronic, photonic and mi-cro‑mechanical devices — including advanced manufacturing approaches such as quasi‑monolithic integration. The system handles 200 mm wafers as well as frames, tapes, trays and comparable substrates. An end‑to‑end carrier handling system loads carriers with mounted substrates from specialized cassettes, positions them on the prober's vacuum chuck and performs fully automated alignment. A t
Häufige Fragen zu dieser Ausschreibung
- Wie kann ich mich auf diese Ausschreibung bewerben?
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- Bis wann läuft die Angebotsfrist?
- Die Angebotsfrist endet am 02. März 2026.
- Wer ist der Auftraggeber?
- Der Auftraggeber ist Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V..
- Welche Unterlagen sind für den Start relevant?
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