Bundesamt für Ausrüstung, Informationstechnik und Nutzung der BundeswehrTED
Beschaffung einer Überlaufmessstrecke zur magnetischen Einzelteilvermessung
Beschaffung einer Überlaufmessstrecke zur magnetischen Einzelteilvermessung (Mini-EVA). Das System dient der magnetischen Vermessung von Einzelteilen oder Fertigprodukten, um sicherzustellen, dass diese ein definiertes magnetisches Störfeld nicht überschreiten.
Messtechnik
Ohne Kreditkarte · Sofortiger Zugang
Inhalt auf einen Blick
Beschaffung einer Überlaufmessstrecke zur magnetischen Einzelteilvermessung (Mini-EVA). Das System dient der magnetischen Vermessung von Einzelteilen oder Fertigprodukten, um sicherzustellen, dass diese ein definiertes magnetisches Störfeld nicht überschreiten.
- Ausschreibungstyp:
- Ausschreibung
- Auftraggeber:
- Bundesamt für Ausrüstung, Informationstechnik und Nutzung der Bundeswehr
- Veröffentlicht:
- 27. April 2026
- Frist:
- Nicht angegeben
- Thema:
- Messtechnik
Ausschreibungsbeschreibung
Beschaffung einer Überlaufmessstrecke zur magnetischen Einzelteilvermessung (Mini-EVA). Das System dient der magnetischen Vermessung von Einzelteilen oder Fertigprodukten, um sicherzustellen, dass diese ein definiertes magnetisches Störfeld nicht überschreiten.
Weiterführende Details
Nach Registrierung stehen Unterlagen, Fristen und Hinweise zur Einreichung strukturiert bereit.
- Kernanforderungen der Ausschreibung priorisiert aufbereitet
- Fristen, Eignungskriterien und Unterlagen in einem Ablauf
- Hinweise zur strukturierten Angebotsvorbereitung
- Passende Folgeausschreibungen automatisch entdecken
Dokumente und Anhänge
49 Dateien erfasst- PDF Notice (BUL)
- PDF Notice (SPA)
- PDF Notice (CES)
- PDF Notice (DAN)
- PDF Notice (DEU)
- PDF Notice (EST)
Ähnliche Bekanntmachungen
7- Bundesamt für Ausrüstung, Informationstechnik und Nutzung der Bundeswehr - S2.2
Beschaffung einer Überlaufmessstrecke zur magnetischen Einzelteilvermessung
Beschaffung einer Überlaufmessstrecke inklusive Ersatzteile. Details ergeben sich aus der Leistungsbeschreibung (siehe Anlage) - LAVES
Beschaffung eines offenen Liquidhandling-Systems zur Nukleinsäureextraktion für das LAVES
Beschaffung eines offenen Liquidhandling-Systems (ohne Reagenzienbindung) für das Lebensmittel- und Veterinärinstitut des LAVES. Das System dient der Nukleinsäureextraktion für molekularbiologische Untersuchungen an jährlich ca. 100.000 Proben, primär zum Nachweis von Tierseuchen gemäß TierGesG. - LAVESOldenburg
Beschaffung eines offenen Liquidhandling-Systems zur Nukleinsäureextraktion für das LAVES
Beschaffung eines offenen Liquidhandling-Systems (ohne Reagenzienbindung) für das Lebensmittel- und Veterinärinstitut des LAVES. Das System dient der Nukleinsäureextraktion für molekularbiologische Untersuchungen an jährlich ca. 100.000 Proben, primär zum Nachweis von Tierseuchen gemäß TierGesG. - LAVES
Beschaffung eines offenen Liquidhandling-Systems zur Nukleinsäureextraktion für das LAVES
Beschaffung eines offenen Liquidhandling-Systems (ohne Reagenzienbindung) für das Lebensmittel- und Veterinärinstitut des LAVES. Das System dient der Nukleinsäureextraktion für molekularbiologische Untersuchungen an jährlich ca. 100.000 Proben, primär zum Nachweis von Tierseuchen gemäß TierGesG. - Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. - Einkauf B12 - Vergabestelle BauMünchen
FIB & SEM system (HHI-01) - PR1216644-3220-P
1 Stück FIB-SEM Dualbeam System Im Rahmen der Beschaffung soll ein feldfreies (ohne Immersionsoptik) fokussiertes Ionenstrahlsystem (FIB-SEM) in Kombination mit einem hochauflösenden Rasterelektronenmikroskop (FIB-SEM) ausgewählt werden. Das System wird für die Strukturierung, Nanostrukturierung sowie Querschnitts- und Oberflächenanalyse von vorwiegend III/V-Halbleitern, LNOI, Polymeren sowie Resists und für die Halbleitertechnik typischen Prozessprodukten eingesetzt. Programmierbare und automatisierte Routinen sollten nach Möglichkeit konfigurierbar sein. Im Rahmen der Ausschreibung soll das neue System installiert werden. Darüber hinaus sind am Aufstellungsort des Systems Raummessungen durchzuführen. Die Raummessungen sollten Bodenvibrationen, akustische Störungen und magnetische Störungen umfassen. Der Bieter verpflichtet sich, durch entsprechende Vorbereitungsmaßnahmen am Aufstellungsort sicherzustellen, dass die Gerätespezifikationen und die Prozessspezifikation (Prozessgas) eingehalten werden. Optionen - Fortgeschrittenenschulung für 15 Tage (2 Personen), Abfrage der Kontingente nach Bedarf - 1 Gasinjektionssystem mit weiteren Elementen, wird im Rahmen der Ausschreibung festgelegt - Softwaremodul zum Import von KLAF-Dateien - Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. - Einkauf B12 - Vergabestelle BauMünchenFrist: 24. Juli
FIB & SEM system (HHI-01) - PR1216644-3220-P
1 Stück FIB-SEM Dualbeam System Im Rahmen der Beschaffung soll ein feldfreies (ohne Immersionsoptik) fokussiertes Ionenstrahlsystem (FIB-SEM) in Kombination mit einem hochauflösenden Rasterelektronenmikroskop (FIB-SEM) ausgewählt werden. Das System wird für die Strukturierung, Nanostrukturierung sowie Querschnitts- und Oberflächenanalyse von vorwiegend III/V-Halbleitern, LNOI, Polymeren sowie Resists und für die Halbleitertechnik typischen Prozessprodukten eingesetzt. Programmierbare und automatisierte Routinen sollten nach Möglichkeit konfigurierbar sein. Im Rahmen der Ausschreibung soll das neue System installiert werden. Darüber hinaus sind am Aufstellungsort des Systems Raummessungen durchzuführen. Die Raummessungen sollten Bodenvibrationen, akustische Störungen und magnetische Störungen umfassen. Der Bieter verpflichtet sich, durch entsprechende Vorbereitungsmaßnahmen am Aufstellungsort sicherzustellen, dass die Gerätespezifikationen und die Prozessspezifikation (Prozessgas) eingehalten werden. Optionen - Fortgeschrittenenschulung für 15 Tage (2 Personen), Abfrage der Kontingente nach Bedarf - 1 Gasinjektionssystem mit weiteren Elementen, wird im Rahmen der Ausschreibung festgelegt - Softwaremodul zum Import von KLAF-Dateien - Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. - Einkauf B12 - Vergabestelle BauMünchen
FIB & SEM system (HHI-01) - PR1216644-3220-P
1 Stück FIB-SEM Dualbeam System Im Rahmen der Beschaffung soll ein feldfreies (ohne Immersionsoptik) fokussiertes Ionenstrahlsystem (FIB-SEM) in Kombination mit einem hochauflösenden Rasterelektronenmikroskop (FIB-SEM) ausgewählt werden. Das System wird für die Strukturierung, Nanostrukturierung sowie Querschnitts- und Oberflächenanalyse von vorwiegend III/V-Halbleitern, LNOI, Polymeren sowie Resists und für die Halbleitertechnik typischen Prozessprodukten eingesetzt. Programmierbare und automatisierte Routinen sollten nach Möglichkeit konfigurierbar sein. Im Rahmen der Ausschreibung soll das neue System installiert werden. Darüber hinaus sind am Aufstellungsort des Systems Raummessungen durchzuführen. Die Raummessungen sollten Bodenvibrationen, akustische Störungen und magnetische Störungen umfassen. Der Bieter verpflichtet sich, durch entsprechende Vorbereitungsmaßnahmen am Aufstellungsort sicherzustellen, dass die Gerätespezifikationen und die Prozessspezifikation (Prozessgas) eingehalten werden. Optionen - Fortgeschrittenenschulung für 15 Tage (2 Personen), Abfrage der Kontingente nach Bedarf - 1 Gasinjektionssystem mit weiteren Elementen, wird im Rahmen der Ausschreibung festgelegt - Softwaremodul zum Import von KLAF-Dateien
Häufige Fragen zu dieser Ausschreibung
- Wie kann ich mich auf diese Ausschreibung bewerben?
- Erstellen Sie ein kostenloses Konto auf Auftrag One. Danach sehen Sie alle Unterlagen, Fristen und Hinweise zur Einreichung in einem strukturierten Ablauf.
- Bis wann läuft die Angebotsfrist?
- Für diese Bekanntmachung ist aktuell keine konkrete Angebotsfrist angegeben.
- Wer ist der Auftraggeber?
- Der Auftraggeber ist Bundesamt für Ausrüstung, Informationstechnik und Nutzung der Bundeswehr.
- Welche Unterlagen sind für den Start relevant?
- In der Regel benötigen Sie Leistungsbeschreibung, Eignungsnachweise, Fristenhinweise und ggf. Formblätter. Auf Auftrag One werden diese Punkte priorisiert dargestellt.