Kristin Schwencke
TEM-Probenhalter
1. Allgemeine Informationen: Titel: TEM-Probenhalter 2. Auftraggeber: Name des Auftraggebers: Kristin Schwencke; Straße, Hausnummer: Helmholtzstr. 20 IFW Dresden - Kristin Schwencke; PLZ: 01069; Ort: Dresden; Land: Deutschland; Telefon: +49 3514659364; E-Mail: [email protected] 3. Vergabeverfahren: Vergabeart/Rechtsrahmen: Freihä...
Type: Tender
Laboratory Instruments
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- Kristin Schwencke
- Published:
- July 06, 2026
- Deadline:
- Not specified
- Topic:
- Laboratory Instruments
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1. Allgemeine Informationen: Titel: TEM-Probenhalter 2. Auftraggeber: Name des Auftraggebers: Kristin Schwencke; Straße, Hausnummer: Helmholtzstr. 20 IFW Dresden - Kristin Schwencke; PLZ: 01069; Ort: Dresden; Land: Deutschland; Telefon: +49 3514659364; E-Mail: [email protected] 3. Vergabeverfahren: Vergabeart/Rechtsrahmen: Freihändige Vergabe ohne Teilnahmewettbewerb - VOL/A; Vergabenummer: 2262346 4. Auftragsgegenstand: CPV-Code: 38000000; Art und : TEM-Probenhalter 5. Ausführungsort: PLZ: 01069; Ort: Dresden; Land: Deutschland 6. Ausführungszeitraum: Zeitraum der Ausführung: Sept. 2026 7. Auftragnehmer: Name des Auftragnehmers: Ametek GmbH; Straße, Hausnummer: Rudolf-Diesel-Str. 16; PLZ: 64331; Ort: Weiterstadt; Land: Deutschland 8. Zusätzliche Angaben: Datum, bis zu dessen Ablauf die Bekanntmachung sichtbar bleiben soll: 07.10.2026 Labortechnik/ Messtechnik
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Staatliche Betriebsgesellschaft für Umwelt und Landwirtschaft1. Allgemeine Informationen: Titel: GC-MS_PAK_H2-System 2. Auftraggeber: Name des Auftraggebers: Staatliche Betriebsgesellschaft für Umwelt und Landwirtschaft; Straße, Hausnummer: Altwahnsdorf 12; PLZ: 01445; Ort: Radebeul; Land: Deutschland; E-Mail: [email protected]; Internet-Adresse: https://www.bful.sachsen.de/ 3. Vergabeverfahren: Vergabeart/Rechtsrahmen: Freihändige Vergabe ohne Teilnahmewettbewerb - VOL/A 4. Auftragsgegenstand: CPV-Code: 38000000-5; Art und : Lieferung eines GC-MS-PAK-H2-Systems 5. Ausführungsort: Offizielle Bezeichnung: Staatliche Betriebsgesellschaft für Umwelt und Landwirtschaft; Straße, Hausnummer: Waldheimer Str. 219; PLZ: 01683; Ort: Nossen; Land: Deutschland 6. Ausführungszeitraum: Zeitraum der Ausführung: 31.12.2025 7. Auftragnehmer: Name des Auftragnehmers: Agilent Technologies Deutschland GmbH; Straße, Hausnummer: Hewlett-Packard-Str.8; PLZ: 76337; Ort: Waldbronn; Land: Deutschland 8. Zusätzliche Angaben: Datum, bis zu dessen Ablauf die Bekanntmachung sichtbar bleiben soll: 01.10.2026 Labortechnik/ MesstechnikLieferung eines 200 kV Glacios 2 Kryo-TEM und Upgrade des Helios 5 Hydra CX FIB
Forschungsverbund Berlin e.V.BerlinI) Lieferung, Aufbau und Inbetriebnahme eines 200 kV Glacios2 Kryo-TEMs inklusive Vitrobot (ohne Kamera) inklusive Transfer und Installation der Falcon 3-Kamera vom Titan Krios Kryo-TEM zum Glacios 2 Kryo-TEM Anwenderschulung vor Ort Extended Warranty und garantierte Reaktionszeiten Umzugsdienstleistungen II) Upgrade des Helios 5 Hydra CX FIB (MDC-Seriennummer: 9958771 ) auf ein Hydra Bio Plasma-FIB Im Vorfeld des Upgrades muss der Umzug in das Haus 94.1 (IIC/OIC) erfolgen Inbetriebnahme des Hydra Bio Kryo-FIB-EM durch geschultes Fachpersonal Anwenderschulung vor Ort Extended Warranty und garantierte Reaktionszeiten UmzugsdienstleistungenTEM Messungen
Leibniz-Institut für Oberflächenmodifzierung e.V.: Dienstleistung nach VOL/A Vergabeverfahren: Freihändige Vergabe Beauftragtes Unternehmen: Fraunhofer Insititut, Halle Auftragsdatum: 17.06.2026 Auftrag: 2026-10637 TEM MessungenTransmissionselektronenmikroskop (TEM)
Institut für Oberflächen-und Schichttechnik GmbHKaiserslauternDeadline: Aug 17Gegenstand des Beschaffungsvorhabens ist die Lieferung, Installation, Inbetriebnahme sowie betriebsbereite Übergabe eines aberrationskorrigierten 200 kV Transmissionselektronenmikroskops (S/TEM) einschließlich analytischer Detektorsysteme, Schulung und vollständiger Systemdokumentation. Das System dient als zentrale Analyseplattform für die hochauflösende strukturelle, chemische und elektronische Charakterisierung von Materialien auf atomarer und nanometergenauer Skala. Es wird sowohl für industrielle Auftragsanalytik als auch für wissenschaftliche Forschungsprojekte eingesetzt. Im Institut werden Materialien mit stark variierenden Eigenschaften untersucht, insbesondere Metalle, Legierungen, keramische Werkstoffe, Halbleiter, Beschichtungen, funktionale Schichtsysteme sowie nanostrukturierte Materialien. Die Proben unterscheiden sich hinsichtlich Geometrie, Stabilität gegenüber Elektronenstrahlbelastung sowie analytischer Fragestellungen. Ein besonderer Schwerpunkt liegt auf: - hochauflösender Abbildung bis in den atomaren Bereich - chemischer Analytik mittels EDX und EELS - Untersuchung von Grenzflächen und Defekten - Untersuchung magnetischer und funktionaler Materialien - reproduzierbaren Messungen über Probenserien hinweg Darüber hinaus ist eine strukturierte Erfassung und Exportfähigkeit von Messdaten und Metadaten in gängige, nicht-proprietäre Formate erforderlich, um Anforderungen an Nachvollziehbarkeit, Langzeitverfügbarkeit und Forschungsdatenmanagement (FAIR-Prinzipien) zu erfüllen. Das System muss die hochauflösende strukturelle, chemische und elektronische Analyse von festen, elektronenstrahlstabilen Proben im Transmissionselektronenmikroskopie- und Raster-Transmissionselektronenmikroskopie-Modus ermöglichen. Hierzu muss es eine präzise Elektronenoptik, stabile Betriebsbedingungen sowie integrierte analytische Detektionssysteme bereitstellen. Ziel ist die Untersuchung von Materialien bis in den atomaren Maßstab sowie die quantitative und qualitative Analyse von Struktur, Zusammensetzung und elektronischen Eigenschaften. Folgende Kernfunktionen sind zwingend bereitzustellen: 1. Hochauflösende Abbildung (TEM und STEM): - Abbildung von Kristallstrukturen, Defekten, Grenzflächen und Nanostrukturen mit atomarer bzw. sub-nanometergenauer Auflösung. - Betrieb sowohl im konventionellen TEM- als auch im STEM-Modus. - Flexible Wahl geeigneter Abbildungsmodi (z. B. Bright Field, Dark Field, HAADF, ABF, Oberflächenbildgebung mit topografieabhängigem Kontrast). 2. Chemische und spektroskopische Analytik: - Elementanalytik mittels energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDX). - Analyse elektronischer und chemischer Zustände mittels Elektronenenergieverlustspektroskopie (EELS). - Durchführung von Punktanalysen, Linienprofilen sowie zweidimensionalem Mapping. 3. Untersuchung von Grenzflächen und Defekten: - Analyse von Phasengrenzen, Ausscheidungen, Korngrenzen und strukturellen Inhomogenitäten. - Untersuchung lokaler chemischer Variationen auf nanoskaliger Ebene. 4. Untersuchung funktionaler und magnetischer Materialien: - Möglichkeit zur magnetfeldfreien oder feldarmen Abbildung (z. B. Lorentz-Modus oder funktional gleichwertig), soweit erforderlich. 5. Automatisierter und reproduzierbarer Betrieb: - Reproduzierbare Einstellung von Messparametern und Speicherung von Messabläufen. - Unterstützung automatisierter Messreihen und Mapping-Experimente. 6. Workflow und Datenmanagement: - Eindeutige Zuordnung von Messdaten, Parametern und Metadaten. - Möglichkeit zur späteren Reproduktion von Messbedingungen. 7. Integration aller Detektoren und Betriebsmodi in eine konsistente Bedienumgebung.Dual Beam Focused Ion Beam System (FIB) und Transmissionselektronenmikroskop (TEM)
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Helmholtz-Zentrum hereon GmbHGeesthachtDeadline: Aug 13Präambel Die Helmholtz-Zentrum hereon GmbH (Hereon) ist eine gemeinnützige Forschungseinrichtung und eine der 18 Mitgliedseinrichtungen der Hermann von Helmholtz-Gemeinschaft Deutscher Forschungszentren e. V. Die Aufwendungen des Hereon werden zu 90% vom Bund (BMFTR - Bundesministerium für Forschung, Technologie und Raumfahrt) und zu 10% von den vier Konsortialländern (Schleswig-Holstein, Hamburg, Niedersachsen und Brandenburg) finanziert. Die satzungsmäßige Aufgabe der Gesellschaft ist es, im multidisziplinären Verbund Forschung und Entwicklung, insbesondere auf den Gebieten der Materialforschung, der Küsten-, Klima- und Umweltforschung sowie der regenerativen Medizin zu betreiben. Leistungsbeschreibung Gegenstand der Ausschreibung ist ein Hochpräzises Ionenstrahl- Ätz- und Poliersystem zur Artefaktfreien Präparation von TEM und REM Proben mit Ionenquellen Es soll ein komplettes und modular aufeinander abgestimmte Equipment zur physikalischen Enddünnung, zum Polieren und zur Oberflächenreinigung von materialwissenschaftlichen Proben (Halbleiter, Metalle, Keramiken) für die Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) und Rasterelektronenmikroskopie (REM) beschafft werden. Das Probenpräparationsequipment muss in der Lage sein, die Proben mechanisch zu schneiden, diese vor zu dünnen und schadensfrei bis zur Elektronentransparenz zu bearbeiten. Das System muss explizit für die Artefakt- und Schadensschichtbeseitigung nach mechanischer Keil- und Planarpräparation (z. B. mittels Teller-Poliersystemen wie z.B. Multiprep) geeignet sein. Hierzu ist eine softwaregesteuerte, gradgenaue Sektorenaufteilung (Strahlmodulation) zur Vermeidung von Halter-Sputtern zwingend erforderlich. Das System muss über mindestens zwei unabhängige Edelgasionenquellen verfügen, die einen kontinuierlichen Betrieb in einem Beschleunigungsspannungsbereich von mindestens 100 V bis 8 kV abdecken. Zur präzisen Zielpräparation von FIB-Lamellen ist ein motorisierter X,Y-Versc128 - Messgerät zur geophysikalischen Erkundung mittels Transienter Elektromagnetik (TEM)
RWTH Aachen UniversityAachenMessgerät zur geophysikalischen Erkundung mittels Transienter Elektromagnetik (TEM)
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