Freistaat Bayern, vertreten durch die Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-NürnbergErlangenTED
Rasterelektronenmikroskop
Beschafft werden soll ein hochauflösendes analytisches Rasterelektronenmikroskop mit Hochvakuum- und Niedervakuumbetrieb, integrierter energiedispersiver Röntgenmikroanalyse, Detektorausstattung, Probenpositionierung, Steuer- und Auswertesoftware, Zubehör, Installation, Einweisung und Applikationstraining. Das System muss für materialwiss...
Submission deadline: July 31, 2026 (expired)Type: Tender
Measurement Technology, Laboratory Instruments
Unlock documents for free
No credit card · Instant access
Content at a glance
- Tender type:
- Tender
- Contracting authority:
- Freistaat Bayern, vertreten durch die Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg
- Published:
- June 30, 2026
- Deadline:
- July 31, 2026
- Topic:
- Measurement Technology
Tender description
Beschafft werden soll ein hochauflösendes analytisches Rasterelektronenmikroskop mit Hochvakuum- und Niedervakuumbetrieb, integrierter energiedispersiver Röntgenmikroanalyse, Detektorausstattung, Probenpositionierung, Steuer- und Auswertesoftware, Zubehör, Installation, Einweisung und Applikationstraining. Das System muss für materialwissenschaftliche Untersuchungen, hochauflösende Bildgebung, Elementanalysen, Elementverteilungsbilder, automatisierte Messabläufe und korrelative Probennavigation geeignet sein.
Further details
With free access, documents, deadlines and submission notes are available in a structured format.
- Core requirements of the tender prioritized and prepared
- Deadlines, eligibility criteria and documents in one workflow
- Guidance for structured bid preparation
- Automatically discover matching follow-up tenders
Unlock 30 days free
30 days free · no credit card · cancel anytime
All procurement details
Buyer, lots, participants, locations, documents, and procedure data have already been captured. Open any area to see the complete information in your workspace.
6 data areas available
Unlock 30 days free
30 days free · no credit card · cancel anytime
Documents
Unlock50 details capturedDocuments · Document bundle
Buyer
Unlock3 details capturedBuyer · Address · Contact
Lots
Unlock1 detail capturedLots LOT-0001
Procedure data
Unlock5 details capturedPublication number · Procedure reference · Procedure type · Contract type · +1 more
Performance locations
Unlock2 details capturedPerformance locations
Publisher
Unlock6 details capturedPublisher · Address · Contact
Related tenders
6DFG-Großgerät: Rasterelektronenmikroskop mit energiedispersiver Röntgenspektroskopie (REM/EDX)
Rheinland-Pfälzische Technische Universität Kaiserslautern-LandauKaiserslauternDeadline: Jul 03Kauf eines fabrikneuen Rasterelektronenmikroskop mit integrierter energiedispersiver Röntgenspektroskopie (REM/EDX) Mindestanforderungen und optionale Erweiterungen siehe LeistungsbeschreibungSEM
AMO, Gesellschaft für angewandte Mikro- und Optoelektronik mbHAachenDie beabsichtigte Beschaffung beinhaltet die Lieferung und Installation eines Rasterelektronenmikroskop zur hochauflösenden Abbildung fester Proben sowohl im Hochvakuum Bereich als auch im Niedervakuumbereich für nichtleitende Proben. Das SEM muss 8Zoll Proben verarbeiten können und aus Elektronenoptik, Probenkammer mit integrierter Schleuse, Stage, eigenem Kühlsystem, Detektoren, Vakuumsystem, Steuerrechner und der entsprechender Ansteuersoftware bestehen. Besondere Aufmerksamkeit bei der Beschaffung liegt auf einer erhöhten Flexibilität des SEMs bei der Untersuchung nichtleitender Proben wie diversen Oxiden (variabler Druck), der Möglichkeit zwischen sehr niedrigen sowie hohen Strahlströmen schnell zu variieren, sowie der Möglichkeit magnetisch bzw. magnetisierbare Materialien betrachten zu können. Lieferung und Installation innerhalb von 6 Monaten nach Zuschlag. Wartung für ein Jahr gemäß LV.LIBS-Mikroskop 2026
Institut für Oberflächen-und Schichttechnik GmbHKaiserslauternGegenstand des Beschaffungsvorhabens ist die Lieferung, Installation sowie betriebsbereite Übergabe eines modular aufgebauten Digitalmikroskops mit integrierter Möglichkeit zur laserbasierten Materialanalyse mittels Laser Induced Breakdown Spectroscopy (LIBS). Das System soll als zentrale Analyseplattform für die Eingangskontrolle von Proben im Institut sowie für die Untersuchung und Bewertung laserbearbeiteter Proben eingesetzt werden. Zur Sicherstellung einer sachgerechten und nachvollziehbaren Bewertung der Proben müssen visuelle Inspektion, hochauflösende mikroskopische Charakterisierung, dreidimensionale Oberflächenanalyse sowie eine quantitative Bestimmung der Elementzusammensetzung in einem integrierten Arbeitsablauf möglich sein. Insbesondere bei der Analyse laserbearbeiteter Proben ist es erforderlich, sowohl morphologische Veränderungen und Bearbeitungsspuren als auch materialbedingte Veränderungen zuverlässig und reproduzierbar zu erfassen. Aus den dargestellten Einsatzbedingungen ergibt sich die Notwendigkeit eines Systems mit hoher Flexibilität hinsichtlich Probenaufnahme, Vergrößerungsbereich und Analytik. Hierzu zählen insbesondere die Fähigkeit zur Untersuchung großflächiger Proben (einschließlich Wafern bis 300 mm), ein weiter Vergrößerungsbereich von der Übersichtsdarstellung bis zur hochauflösenden Detailanalyse, die Möglichkeit zur Untersuchung großvolumiger oder ortsfester Objekte mittels geeigneter optischer Komponenten sowie die Integration einer präparationsarmen bzw. präparationsfreien Elementanalyse direkt am Untersuchungsort. Ergänzend soll die laserbasierte Funktionalität des Systems nicht ausschließlich zur materialanalytischen Untersuchung eingesetzt werden, sondern auch zur Erzeugung definierter Markierungen auf Probenoberflächen dienen, um Messpositionen für nachgelagerte Untersuchungsverfahren eindeutig zu kennzeichnen und wiederzufinden. Hierbei kann der beim LIBS-Verfahren entstehende Materialabtrag gezielt genutzt werden. Alternativ kann die Markierung durch ein zusätzlich integriertes oder funktional gleichwertiges Lasersystem erfolgen. In beiden Fällen ist eine hochpräzise und reproduzierbare Positionierung im Bereich weniger Mikrometer erforderlich, um eine eindeutige Zuordnung zwischen optischer Charakterisierung, analytischen Messungen und weiteren Prüfverfahren sicherzustellen. Aus diesem Grund sind entsprechend genaue, motorisierte Positioniersysteme mit geeigneter Steuerungs- und Referenzfunktionalität erforderlich. Das System soll sowohl für Routineaufgaben der Probenannahme und Qualitätsbewertung als auch für wissenschaftliche Untersuchungen, Entwicklungsarbeiten und Kooperationsprojekte eingesetzt werden. Darüber hinaus dient es der Unterstützung von Forschungs- und Transferaktivitäten sowie der Qualifizierung von wissenschaftlichem Personal. Die geplante Beschaffung beinhaltet ein vollständiges Digitalmikroskop mit Materialanalysefunktion mittels LIBS inklusive aller für den Betrieb erforderlichen Komponenten, Steuerrechner, Software und Zubehörteile. Im Einzelnen soll das Mikroskop mindestens folgende Komponenten enthalten: - Stativlösung, die den Betrieb sämtlicher vorgesehenen Untersuchungs- und Analysefunktionen ohne erforderlichen Messkopfwechsel ermöglicht. Die Realisierung kann durch ein entsprechend ausgelegtes Einzelstativ oder durch eine Doppelstativkonfiguration erfolgen. Ziel ist es, einen unterbrechungsarmen Arbeitsablauf ohne zeitaufwändige Umrüstvorgänge sicherzustellen. - Motorisierte (X,Y,Z) mind. 100mm x 100mm Stage mit Durchlicht-Option - Motorisierte (X,Y,Z) mind. 300mm x 300mm Stage (Notwendig für Charakterisierung und Markierung von 300mm Wafern) - 4-fach Objektiv-Revolver mit 5 wechselbaren Objektiven für Vergrößerungen 5x (Macro) -6000x - Polarisations- und Interferenzkontrast-Optionen für die Objektive des Revolvers - Materialanalyse zur Bestimmung der quantitativen Elementzusammensetzung mittels LIBS - Mobile Kamera Option mit einer Vergrößerung von mindestens 20x-1000x (auch mit zwei Objektiven) - Schwenkoptionen der Stative (mind. 90° mit Revolver, mind. 60° mit LIBS) - Abstandserweiterungen der Stative für höhere Proben Geometrien - Steuer-PC mit Mess- und Auswertesoftware Software incl. Bedieneinheit - Auswerte Software auch für Offline-PCsKamerasystem zur Direktelektronendetektion für ein Transmissionselektronenmikroskop
Helmholtz-Zentrum hereon GmbHGeesthachtPräambel Die Helmholtz-Zentrum hereon GmbH (Hereon) ist eine gemeinnützige Forschungseinrichtung und eine der 18 Mitgliedseinrichtungen der Hermann von Helmholtz-Gemeinschaft Deutscher Forschungszentren e. V. Die Aufwendungen des Hereon werden zu 90% vom Bund (BMFTR - Bundesministerium für Forschung, Technologie und Raumfahrt) und zu 10% von den vier Konsortialländern (Schleswig-Holstein, Hamburg, Niedersachsen und Brandenburg) finanziert. Die satzungsmäßige Aufgabe der Gesellschaft ist es, im multidisziplinären Verbund Forschung und Entwicklung, insbesondere auf den Gebieten der Materialforschung, der Küsten-, Klima- und Umweltforschung sowie der regenerativen Medizin zu betreiben. Gegenstand der Ausschreibung ist das Upgrade eines bestehenden Transmissionselektronenmikroskops (TEM) vom Typ Talos F200X zu einem hochintegrierten, multimodalen Analysesystem. Damit soll die Voraussetzung zur Erfüllung der Forschungsschwerpunkte auf computergestützte Mikroskopietechnik geschaffen werden. Ziel ist die signifikante Erweiterung der analytischen Fähigkeiten in den Bereichen: - hochauflösende STEM-Bildgebung - 4D-STEM Datenerfassung - Niedrigdosis- und strahlensensitive Untersuchungen - automatisierte und reproduzierbare Messabläufe Dabei ist ein vollständig integriertes Gesamtsystem bereitzustellen, in dem alle Komponenten hardware- und softwareseitig optimal aufeinander abgestimmt sind. Leistungsbeschreibung Der Auftragnehmer liefert, installiert und integriert ein Upgrade bestehend aus: 1. Direct Electron Detection System (DED) o DED-Kamera (80 kV und 200 kV kompatibel) o Hochperformance Datenmanagementplattform (DMP) o Vollständige Integration in die Mikroskop-Steuerung 2. STEM-Upgrade und 4D-STEM Funktionalität o On-Axis STEM Detektor (BF/DF) o HAADF Detektor o 4D-STEM Datenerfassungssystem o DPC/iDPC Software o Softwaremodul für Integrated Differential Phase Contrast (iDPC) im live-Modus 3. Systemintegration und Installation o Vollständige Installation aller Komponenten o Integration in bestehende Infrastruktur o Anwenderschulung Das System muss als vollintegrierte Lösung angeboten werden, bei der die Hardware, Detektoren, Software und das Datenmanagement aus einer Hand stammen und nahtlos zusammenarbeiten. Beschreibung 1. Systemintegration (zwingend erforderlich) Das System muss eine durchgängige Integration aller Detektoren und Analyseverfahren in eine einheitliche Benutzeroberfläche gewährleisten. o Einheitliche Steuerung über VELOX Software o Gleichzeitige Nutzung mehrerer Signale (TEM, STEM, EDS, 4D-STEM) o Synchronisierte Datenerfassung 2. Direktelektronendetektor (DED-Kamera) Direktelektronendetektor mit hoher Detektionseffizienz (DQE) bei 200 kV: o Anzahl der Pixel: mind. 4k x 4k o Pixelgröße für optimales Signal-Rausch-Verhältnis: mindestens 14µm x 14 µm o DQE (Detective Quantum Efficiency) wie folgt oder besser bei einer Bildleistung im Electron Event Representation - Modus (EER), (4k x 4k) und bei 200 kV: DQE (0) mindestens 0,91; DQE (1/2 Nq) mindestens 0,62; DQE (1 Nq) mindestens 0,33 o Electron Event Representation (EER) Modus zur verlustfreien Datenreduktion o Frame Rate sowie Frame Rate to Storage: mindestens 320 fps im EER-Modus o Sensor-Lebenszeit (<10% DQE Degradation): 5 Jahre (1.5 Ge/px) bei üblicher Verwendung o Vollintegration in die VELOX-Anwender-Software o Abnahmezertifikat für die obigen Parameter 3. On-Axis STEM Detektor o Segmentierter Detektor mit 16 BF/DF Segmenten mit single-elektron- Sensitivität o Gleichzeitige Nutzung mehrerer Kontrastsignale o Unterstützung von DPC und live iDPC 4. 4D-STEM Funktionalität o Aufnahme vollständiger Beugungsdatensätze pro Pixel o Flexible ROI-Definition: bis zu 8 virtuelle Detektoren definierbar und gleichzeitige EDX sowie HAADF-STEM Erfassung o Speicherung als multidimensionale Datensätze o Bereitstellung als Open-Source-Daten, die nach dem Experiment mit jeder verfügbaren Software weiterverarbeitet werden können, zum Beispiel mit Py4DSTEM 5. Live iDPC Bildgebung o Hohe Empfindlichkeit für leichte Elemente o Hoher Signal-zu-Rausch-Abstand o Betrieb bei niedrigen Strahlströmen Anforderung an Computerhard und -software Das angebotene System muss folgende Integrationsvorteile erfüllen (Mindestanforderung): 1. Vollintegration aller Detektoren o DED-Kamera, STEM-Detektoren, EDS und 4D-STEM arbeiten in einem System o Vollintegration in die VELOX-Anwender-Software, keine externe Software 2. Gleichzeitige multimodale Datenerfassung o Parallelbetrieb von 4D-STEM, EDS und HAADF/STEM 3. Workflow-Integration und Automatisierung o Automatische Alignments o Drift-korrigierte Bildintegration o Zeitaufgelöste EDS-Analyse 4. Datenmanagement o Zentrale Datenspeicherung (DMP) o Strukturierte Metadatenverwaltung o Multi-User Zugriff Sonstiges o Lieferung aller Komponenten als integriertes System o Fachgerechte Installation und Inbetriebnahme o Durchführung von Anwenderschulungen o Sicherstellung der Kompatibilität mit bestehender Infrastruktur o Remote-Servicefähigkeit o Wartung und Service des kompletten Systems durch einen Anbieter (Gesamtverantwortung). Der Bestbieter ist verantwortlich für das gesamte TEM inklusive der neuen Teile, das beinhaltet neben der Wartung auch die Problembehebung und allfällige Garantien. o inkl. Garantie und Wartungsvertrag für 2 Jahre Lieferung, Aufbau, Abnahme und Rechnungsstellung muss bis KW50/2026 erfolgt sein, da die Projektgelder nur in diesem Jahr zur Verfügung stehen.TESCAN Rasterelektronenmikroskop
Technische Universität DortmundDortmundBeschaffung eines TESCAN Rasterelektronenmikroskops (Vorführgerät) inklusive Lieferung, Installation und Einweisung.Lieferung eines Rasterelektronenmikroskop mit EDXS-Analysesystem einschließlich Nebenleistungen
Ferdinand-Braun-Institut gGmbH, Leibniz-Institut für HöchstfrequenztechnikBerlinLieferung eines Rasterelektronenmikroskop mit EDXS-Analysesystem einschließlich Nebenleistungen (Installation, Wartung, Support)
Frequently asked questions about this tender
- How can I apply for this tender?
- Create a free account on Auftrag One. You will then see all documents, deadlines and submission notes in a structured workflow.
- What is the submission deadline?
- The submission deadline is 31. Juli 2026.
- Who is the contracting authority?
- The contracting authority is Freistaat Bayern, vertreten durch die Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg.
- Which documents are needed to get started?
- Typically you need the service description, proof of eligibility, deadline notes and possibly form sheets. On Auftrag One these items are displayed in prioritized order.