Mobiles Testsystem zum Eichen von AC- und DC-SchnellladesäulenKleinmachnow
Mobiles Testsystem zum Eichen von AC- und DC-Schnellladesäulen
Beschaffung eines mobilen Prüflastsystems für die messtechnische Überprüfung von AC‑ und DC‑Schnellladesäulen. Lieferumfang: Lieferung, Inbetriebnahme und technische Einweisung für Vor‑Ort‑Prüfungen nach gesetzlichen Vorgaben (GM.P 6.8). Das System ermöglicht granular programmierbare Einstellung von Strom, Spannung und Lastprofilen im im ...
Submission deadline: July 15, 2026 (expired)Type: Tender
Generators, Measurement Technology
Unlock documents for free
No credit card · Instant access
Content at a glance
- Tender type:
- Tender
- Contracting authority:
- Mobiles Testsystem zum Eichen von AC- und DC-Schnellladesäulen
- Published:
- June 14, 2026
- Deadline:
- July 15, 2026
- Topic:
- Generators
Tender description
Beschaffung eines mobilen Prüflastsystems für die messtechnische Überprüfung von AC‑ und DC‑Schnellladesäulen. Lieferumfang: Lieferung, Inbetriebnahme und technische Einweisung für Vor‑Ort‑Prüfungen nach gesetzlichen Vorgaben (GM.P 6.8). Das System ermöglicht granular programmierbare Einstellung von Strom, Spannung und Lastprofilen im im Leistungsverzeichnis genannten Bereich, ist mobil einsetzbar, integrierbar in vorhandene Prüf‑ und Datenverarbeitungssysteme und bietet bei DC‑Last präzise, reproduzierbare Simulationen, Schutz‑ und Überwachungsfunktionen sowie geeignete Schnittstellen.
Further details
With free access, documents, deadlines and submission notes are available in a structured format.
- Core requirements of the tender prioritized and prepared
- Deadlines, eligibility criteria and documents in one workflow
- Guidance for structured bid preparation
- Automatically discover matching follow-up tenders
Unlock 30 days free
30 days free · no credit card · cancel anytime
All procurement details
Buyer, lots, participants, locations, documents, and procedure data have already been captured. Open any area to see the complete information in your workspace.
4 data areas available
Unlock 30 days free
30 days free · no credit card · cancel anytime
Related tenders
9DC-Stimulator Mobile (3 Stk.)
Universitätsmedizin Greifswald KöRN/ADC-Stimulator Mobile (3 Stk.)Ausstattung Schweißen - AC/DC WIG Schweißgerät+Kabelloser Fußregler
Handwerkskammer SüdwestfalenArnsbergDeadline: Jun 15Modernisierung der Ausstattung im Bereich der Schweiß-Technik: AC/DC-WIG-Schweißgerät (industrielle Ausführung) + kabelloser Fußfernregler für TIG-Schweißgerät AC/DC.Lieferung eines modularen Systems zur elektrischen Charakterisierung von elektronischen Bauelementen
RWTH Aachen UniversityAachen1 x modulares System zur elektrischen Charakterisierung von elektronischen Bauelementen (Transistoren, Dioden, Memristoren) inkl. einer PC-SteuersoftwareMessgerät - Halbleiter Parameter Analysator mit hoher Stromauflösung
BundLieferung eines Halbleiter-Parameter-Analysators mit hoher Stromauflösung für die Technische Universität Wien.PROCEDIMIENTO ABIERTO CON PLURALIDAD DE CRITERIOS
FUNDACION IMDEA NANOCIENCIAMADRIDDeadline: Sep 14Liefervertrag für ein Tiefenkraftmikroskop (STM/nc‑AFM) mit Tieftemperatur‑ und Ultrahochvakuum‑Umgebung, integriertem Magnetfeld und Lichtsammlung für die IMDEA Nanowissenschafts‑Stiftung.200 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz
IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative MikroelektronikFrankfurt (Oder)Deadline: Jul 24Semi-automatisches 200 mm RF Probe System für On-Wafer-Messungen bis 250 GHz. Integrierte kontrollierte Trockenatmosphäre zur Vermeidung von Kondensation bei Messungen unter Umgebungstemperatur. Definierte Schnittstellenarchitektur für optionale Thermalchucks. Automatische Wafergrößenerkennung (150 mm, 200 mm, Einzelchips ab 5 × 5 mm). Präzisions-XY-Tisch: Mindestverfahrbereich 310 × 310 mm, Wiederholgenauigkeit < 1,0 µm, Genauigkeit < 2,0 µm. Präzisions-Z-Tisch: Mindestverfahrbereich 30 mm, Wiederholgenauigkeit < 1,0 µm, Genauigkeit < 2,0 µm. Theta-Achse: ±5°, Auflösung ≥ 0,0001°. Kontrollierter Kontaktmechanismus mit Wiederholgenauigkeit ≤ 1 µm. Integrierte Schwingungsisolierung und Nivelliertisch. Zentrale Bedienkonsole, Tastatur-/Mausablage. Spannungsversorgung: 100-240 V AC, 50/60 Hz.Photonische Messinstrumente
IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbHIlmenauDeadline: Jul 17Messeinheit auf der Basis eines Chassis für PXIe-Instrumente für den vollautomatisier-ten Test an photonischen Standardteststrukturen mit 4 optischen Eingängen und 12 optischen Ausgängen zum Betrieb an einem bestehenden Waferprober - siehe Leistungsbeschreibung (Anlage 01)Hotplate zur Temperung großflächiger Substrate für Elektronenstrahllithografie
Friedrich-Schiller-Universität JenaJenaEs soll eine halbautomatische Hotplate zur Temperung von mit Resists beschichteten Substraten für hochauflösende Elektronenstrahllithografie beschafft werden. Die Anlage dient zur definierten Pre- und Post-bake chemisch verstärkter Resists, wie bspw. FEP171, bei denen die Empfindlichkeit wesentlich durch das Temperatur Zeit Profil und die Temperatur-Homo genität bestimmt wird. Zu prozessierende Substrate umfassen u.a. 300mm-Wafer, sowie rechteckiger Glas-Substrate bis zu L x B x H = 300mm × 275mm × 15mm. Aus diesen technischen Randbedingungen ergeben sich die folgenden Anforderungen:, siehe Anlage 2.FluNQyLab_Zeitaufgelöstes Konfokal-Fluoreszenzmikroskop
Friedrich-Schiller-Universität JenaJenaDie Friedrich-Schiller-Universität Jena beabsichtigt für Forschungszwecke ein (1) vielseitiges und benutzerfreundliches zeitaufgelöstes Konfokal-Fluoreszenzmikroskop anzuschaffen, welches die optische Charakterisierung von vereinzelten sowie an optische Nanostrukturen gekoppelten Quan tenemittern ermöglicht. Das System benötigt eine entsprechend hohe räumliche Auflösung zur Abbildung nanoskaliger Strukturen, hohe Sensitivität zur Detektion einzelner Quantenemitter, sowie Zeitauflösung zur Charakterisierung der Emissionsdynamik in gekoppelten Systemen. Um die Anre gung verschiedener zu untersuchender Emittersysteme sicherzustellen, werden Anregungslaser bei verschiedenen Wellenlängen im UV- und VIS-Bereich benötigt, wobei ein schnelles Umschalten zwischen den verschiedenen Laserquellen möglich sein muss. Der Anregungslaserfokus muss dabei mit nanoskaliger Genauigkeit über die untersuchte Probe gescannt werden können und so eine zwei- bzw. prinzipiell auch dreidimensionale Bildgebung sowie Punktmessungen mit hoher Positionier genauigkeit im Nanometerbereich zu ermöglichen. Des Weiteren soll die Möglichkeit einer Weitfeldanregung für schnelle Übersichtsmessungen der räumlichen Lichtverteilung bestehen. Detektorseitig werden schnelle Detektoren mit Einzelphotonensensitivität im sichtbaren Spektralbereich benötigt. Eine leistungsfähige und schnelle Elektronik ist für Messungen der strahlenden Lebensdauer mit Zeitauflösung bis in den Picosekundenbereich essenziell. Die Anforderung, Messungen der Photonenstatistik zum Nachweis von Einzelphotonenemittern (Antibunching) oder auch von Lasing in Nanostrukturen zu ermöglichen, resultiert des Weiteren in der Notwendigkeit einer speziellen Anordnung (Hanbury-Brown-Twiss Setup) von mehreren schnellen Detektoren und der elektronischen Unterstützung von oinzidenzmessungen. Zur quantenoptischen Untersuchung von Systemen mit mehr als einem Emitter werden dabei mindestens drei in einem Detektorbaum angeordnete Detektoren benötigt. Essenziell wichtig für die geplanten Experimente sind zudem spektral aufgelöste Messungen. Das zeitaufgelöste Konfokal-Fluoreszenzmikroskop soll daher eine leistungsfähige Spektrographenerweiterung mit hoher Quanteneffizienz erhalten, welche separat beschrieben ist (siehe LV_FluNQyLab_Spektrographenerweiterung). Diese Kombination ermöglicht eine multidimensionale Analyse der Emissionseigenschaften einer großen Bandbreite von Quantenemittern in lichtemittierenden Nanostrukturen sowie auf funktionalen Substraten. Als Budget steht ein maximaler Betrag in Höhe von 520.000,00 Euro brutto zur Verfügung. Die Vergabestelle behält sich vor Angebote über diesem Wert von der Wertung auszuschließen. Liegen alle wertbaren Angebote über diesem Betrag ist die Vergabestelle berechtigt die Ausschreibung auf zuheben. Folgende Spezifikationen/Eigenschaften müssen mindestens erfüllt werden: siehe Anlage 2.
Frequently asked questions about this tender
- How can I apply for this tender?
- Create a free account on Auftrag One. You will then see all documents, deadlines and submission notes in a structured workflow.
- What is the submission deadline?
- The submission deadline is 15. Juli 2026.
- Who is the contracting authority?
- The contracting authority is Mobiles Testsystem zum Eichen von AC- und DC-Schnellladesäulen.
- Which documents are needed to get started?
- Typically you need the service description, proof of eligibility, deadline notes and possibly form sheets. On Auftrag One these items are displayed in prioritized order.