Empa zentraler EinkaufDübendorf
Low-temperature scanning probe microscope for in-operando device nanoscopy
Beschaffung eines Tieftemperatur- (<3K) Ultrahochvakuum (UHV)-Rasterkraftmikroskopie-Systems mit optischem Zugang zur Probenuntersuchung im Submikrometerbereich auf atomarer Ebene. Das System umfasst Rastertunnelmikroskopie (STM), Spektroskopie (STS) und stimmgabelbasierte kontaktlose Rasterkraftmikroskopie (nc-AFM) sowie eine UHV-Präpara...
Laboratory Instruments
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- Tender type:
- Tender
- Contracting authority:
- Empa zentraler Einkauf
- Published:
- March 26, 2026
- Deadline:
- Not specified
- Topic:
- Laboratory Instruments
Tender description
Beschaffung eines Tieftemperatur- (<3K) Ultrahochvakuum (UHV)-Rasterkraftmikroskopie-Systems mit optischem Zugang zur Probenuntersuchung im Submikrometerbereich auf atomarer Ebene. Das System umfasst Rastertunnelmikroskopie (STM), Spektroskopie (STS) und stimmgabelbasierte kontaktlose Rasterkraftmikroskopie (nc-AFM) sowie eine UHV-Präparationskammer und eine Einschleusevorrichtung (Load Lock).
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