Hochschule Albstadt-SigmaringenSigmaringenTED
Hochschule Albstadt-Sigmaringen-Rasterelektronenmikroskop mt EDX-System (FE-REM)
Rasterelektronenmikroskop mit EDX-System (FE-REM) inkl. Lieferung, Montage, Inbetriebnahme und Schulung
Laboratory Instruments
No credit card · Instant access
Content at a glance
- Tender type:
- Tender
- Contracting authority:
- Hochschule Albstadt-Sigmaringen
- Published:
- August 06, 2026
- Deadline:
- September 08, 2026
- Topic:
- Laboratory Instruments
Tender description
Rasterelektronenmikroskop mit EDX-System (FE-REM) inkl. Lieferung, Montage, Inbetriebnahme und Schulung
Further details
With free access, documents, deadlines and submission notes are available in a structured format.
- Core requirements of the tender prioritized and prepared
- Deadlines, eligibility criteria and documents in one workflow
- Guidance for structured bid preparation
- Automatically discover matching follow-up tenders
30 days free · no credit card · cancel anytime
All procurement details
Buyer, lots, participants, locations, documents, and procedure data have already been captured. Open any area to see the complete information in your workspace.
6 data areas available
30 days free · no credit card · cancel anytime
Documents
Unlock50 details capturedDocuments · Document bundle
Buyer
Unlock3 details capturedBuyer · Address · Contact
Lots
Unlock1 detail capturedLots LOT-0000
Procedure data
Unlock6 details capturedPublication number · Procedure reference · Buyer reference · Procedure type · +2 more
Performance locations
Unlock3 details capturedPerformance locations
Publisher
Unlock3 details capturedPublisher · Address · Contact
Related tenders
4DFG-Großgerät: Rasterelektronenmikroskop mit energiedispersiver Röntgenspektroskopie (REM/EDX)
Rheinland-Pfälzische Technische Universität Kaiserslautern-LandauKaiserslauternKauf eines fabrikneuen Rasterelektronenmikroskop mit integrierter energiedispersiver Röntgenspektroskopie (REM/EDX) Mindestanforderungen und optionale Erweiterungen siehe LeistungsbeschreibungHochschule Campus Wien – Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop
Hochschule Campus WienWienDeadline: Sep 22Die Hochschule für Angewandte Wissenschaften Campus Wien (HCW) (kurz „AG“) schreibt die Lieferung, der Aufbau und die Inbetriebnahme eines voll funktionsfähigen Feldemissions-Elektronenmikroskops (FE-REM) inkl. Schulung von Mitarbeiter:innen der AG sowie optionale Leistungen hins. System-Komponenten sowie im Bereich Wartung und Instandhaltung aus. Ziel des gegenständlichen Vergabeverfahrens ist daher der Abschluss eines „Vertrags über die Beschaffung eines Feldemissions-Elektronenmikroskops (FE-REM)“ (kurz „Leistungsvertrag“) zwischen der AG einerseits und der:dem im gegenständlichen Vergabeverfahren bestgereihten Bieter:in andererseits. Das ausgeschriebene Feldemissions-Elektronenmikroskop (FE-REM) wird im Zuge eines geförderten Infrastrukturprojektes für die Forschung (gefördert von der MA23 – Wirtschaft, Arbeit und Statistik, der Stadt Wien) beschafft. Der AG steht daher für das ausgeschriebene Feldemissions-Elektronenmikroskop (FE-REM) – das bedeutet für sämtliche (von der AG) abgerufenen Leistungen der:des künftigen Auftragnehmerin:Auftragnehmers gemäß Leistungsbeschreibung nach Vertragsabschluss innerhalb des Förderzeitraums (bis 31.12.2030) – ein maximales Gesamtbudget von EUR 310.000,00 (exkl. USt) zur Verfügung. Siehe weiterführend die Verfahrensunterlagen.Rasterelektronenmikroskop Starke
Hochschule KaiserslauternKaiserslauternDeadline: Sep 10Gegenstand der Beschaffung ist die Lieferung eines Rasterelektronenmikroskops (REM) mit Raster-Kraft-/Magnet-Kraft-Mikroskopie-Modul (AFM/MFM) für wissenschaftliche Anwendungen. Das System soll die Untersuchung und Charakterisierung unterschiedlicher Proben mittels Rasterelektronenmikroskopie (REM) sowie Raster-Kraft- und Magnet-Kraft-Mikroskopie (AFM/MFM) ermöglichen. Der Lieferumfang umfasst das vollständige Messsystem einschließlich erforderlicher Komponenten, Software, Zubehör, Lieferung, Installation, Inbetriebnahme sowie Einweisung der Anwender.Rasterelektronenmikroskop - PR1253394-2790-W
Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. - Einkauf B12 - Vergabestelle BauMünchenDeadline: Sep 071 Stück Rasterelektronenmikroskop Die Rasterelektronenmikroskopie (REM) ist ein weit verbreitetes analytisches Verfahren zur Materialanalyse, das eine zerstörungsfreie, benutzerfreundliche Handhabung mit vielfältigen Möglichkeiten zur Materialcharakterisierung verbindet. Neben der Abbildung von Materialoberflächen ermöglicht die REM den Einsatz verschiedener spektroskopischer und beugungsbasierter Methoden zur Analyse der chemischen Zusammensetzung, kristallographischer Eigenschaften sowie struktureller Defekte. Mit einem Feldemissions-REM (FE-REM) lässt sich ein breiter Vergrößerungsbereich erschließen, der bis in den Sub-Nanometer-Auflösungsbereich reicht. Als führendes Institut auf dem Gebiet der Materialien mit (ultra-)breiter Bandlücke benötigen wir ein REM, das ein breites Spektrum materialwissenschaftlicher Charakterisierungsaufgaben unterstützt. Dazu gehören insbesondere die Charakterisierung von Bulk-Kristallen mit (ultra-)breiter Bandlücke, feinkörnigen Ausgangsmaterialien, unbehandelten Substraten hinsichtlich intrinsischer Defekte und Restschäden (z. B. aus Polierprozessen), Substraten mit epitaktischen Schichten für (opto-)elektronische Bauelemente sowie vollständig prozessierten Bauelement-Wafern. Die wesentlichen Anforderungen an das geplante REM lassen sich in drei Hauptaspekte unterteilen: 1) Ein elektronenoptisches System, das eine hochmoderne, hohe laterale Auflösung bis in den Sub-Nanometer-Bereich bietet. Dies muss mit einer umfassenden Detektorausstattung kombiniert sein, einschließlich Kammerdetektoren für Sekundärelektronen (SE) und Rückstreuelektronen (BSE) sowie In-Lens-Detektoren für SE- und BSE-Elektronen, jeweils mit wählbaren Energiebereichen und klarer Trennung der jeweiligen Signale. Bevorzugt wird eine feldfreie Objektivlinse, um Einschränkungen durch magnetische Wechselwirkungen oder Fokussierungsprobleme zu vermeiden, die auftreten können, wenn leitfähige Kanäle (z. B. in elektronischen Bauelementen) in das starke Linsenfeld geneig
Frequently asked questions about this tender
- How can I apply for this tender?
- Create a free account on Auftrag One. You will then see all documents, deadlines and submission notes in a structured workflow.
- What is the submission deadline?
- The submission deadline is 08. September 2026.
- Who is the contracting authority?
- The contracting authority is Hochschule Albstadt-Sigmaringen.
- Which documents are needed to get started?
- Typically you need the service description, proof of eligibility, deadline notes and possibly form sheets. On Auftrag One these items are displayed in prioritized order.